@inproceedings{inproceedings21e92ba4,
title   = {Estudo por microscopia eletronica de transmissao (met) do recozimento de defeitos residuais em camadas de silicio recristalizadas},
author = {Santos, J T and Hasenack, Claus Martin and Monteiro, Waldemar Alfredo},
year = {1991},
publisher = {Sbme},
booktitle   = {Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica}
}