@inproceedings{inproceedings2a5688ea,
title   = {Estudos de defeitos em silício},
author = {Teixeira, C V and Conforto, E and Stojanoff, Vivian},
year = {1990},
publisher = {Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica},
booktitle   = {Micromat 90 - Simpósio Brasileiro de Microscopia Eletrônica e Técnicas Associadas Na Pesquisa e Materiais}
}