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Artigo de periodico
Reactively-sputtered tin formation using a rf magnetron system (1996)
Osorio, Sergio Paulo Amaral; Zasnicoff, Luiz Sergio
Source: Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. Unidades: EP, IF
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OSORIO, Sergio Paulo Amaral e ZASNICOFF, Luiz Sergio. Reactively-sputtered tin formation using a rf magnetron system. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, n. 03, 1996Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/291bf272-2e59-4e07-b76e-75cb54e64919/BT-PEE-03_96_251022_090726.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Osorio, S. P. A., & Zasnicoff, L. S. (1996). Reactively-sputtered tin formation using a rf magnetron system. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, (03). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/291bf272-2e59-4e07-b76e-75cb54e64919/BT-PEE-03_96_251022_090726.pdf
NLM
Osorio SPA, Zasnicoff LS. Reactively-sputtered tin formation using a rf magnetron system [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(03):[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/291bf272-2e59-4e07-b76e-75cb54e64919/BT-PEE-03_96_251022_090726.pdf
Vancouver
Osorio SPA, Zasnicoff LS. Reactively-sputtered tin formation using a rf magnetron system [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(03):[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/291bf272-2e59-4e07-b76e-75cb54e64919/BT-PEE-03_96_251022_090726.pdf
Artigo de periodico
Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip (1996)
Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida
Source: Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, n. 14, 1996Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, (14). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf
NLM
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf
Vancouver
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf

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