Testador logico de circuitos integrados (1993)
Fonte: Anais (Comunicações). Nome do evento: Reunião Anual da SBPC. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
BRITO, Claudio da Rocha e CHANG, C e TERUIYA, E S. Testador logico de circuitos integrados. 1993, Anais.. Recife: Sbpc, 1993. . Acesso em: 16 nov. 2025.APA
Brito, C. da R., Chang, C., & Teruiya, E. S. (1993). Testador logico de circuitos integrados. In Anais (Comunicações). Recife: Sbpc.NLM
Brito C da R, Chang C, Teruiya ES. Testador logico de circuitos integrados. Anais (Comunicações). 1993 ;[citado 2025 nov. 16 ]Vancouver
Brito C da R, Chang C, Teruiya ES. Testador logico de circuitos integrados. Anais (Comunicações). 1993 ;[citado 2025 nov. 16 ]
