Resistividade 2D: profundidade de investigação e resolução do objetivo (2006)
Gandolfo, Otávio Coaracy Brasil; Gallas, José Domingos Faraco 
Source: Anais. II SimBGf. Conference titles: Simpósio Brasileiro de Geofísica. Unidade: IGC
Assunto: ELETRORRESISTIVIDADE
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ABNT
GANDOLFO, Otávio Coaracy Brasil e GALLAS, José Domingos Faraco. Resistividade 2D: profundidade de investigação e resolução do objetivo. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Geofísica, 2006. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7c16c169-f5f7-4877-9eca-ee563e26b2c0/3183767.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.APA
Gandolfo, O. C. B., & Gallas, J. D. F. (2006). Resistividade 2D: profundidade de investigação e resolução do objetivo. In Anais. II SimBGf. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Geofísica. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/7c16c169-f5f7-4877-9eca-ee563e26b2c0/3183767.pdfNLM
Gandolfo OCB, Gallas JDF. Resistividade 2D: profundidade de investigação e resolução do objetivo [Internet]. Anais. II SimBGf. 2006 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7c16c169-f5f7-4877-9eca-ee563e26b2c0/3183767.pdfVancouver
Gandolfo OCB, Gallas JDF. Resistividade 2D: profundidade de investigação e resolução do objetivo [Internet]. Anais. II SimBGf. 2006 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7c16c169-f5f7-4877-9eca-ee563e26b2c0/3183767.pdf
