Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip (1996)
Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida 
Fonte: Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, n. 14, 1996Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf. Acesso em: 16 nov. 2025.APA
Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, (14). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdfNLM
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 16 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdfVancouver
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 16 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf
