Anaissi, Fauze Jacó; Demets, Grégoire Jean-François; Alvarez, Emiliano Barbieri; Politi, Mário José 
; Toma, Henrique Eisi
Source: Electrochimica Acta. Unidade: IQ
Subjects: VANÁDIO, ELETROQUÍMICA
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ABNT
ANAISSI, Fauze Jacó et al. Long-term aging of vanadium(V) oxide xerogel precursor solutions: structural and electrochemical implications. Electrochimica Acta, v. 47, p. 441-450, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0013-4686(01)00737-x. Acesso em: 22 ago. 2024.APA
Anaissi, F. J., Demets, G. J. -F., Alvarez, E. B., Politi, M. J., & Toma, H. E. (2001). Long-term aging of vanadium(V) oxide xerogel precursor solutions: structural and electrochemical implications. Electrochimica Acta, 47, 441-450. doi:10.1016/s0013-4686(01)00737-xNLM
Anaissi FJ, Demets GJ-F, Alvarez EB, Politi MJ, Toma HE. Long-term aging of vanadium(V) oxide xerogel precursor solutions: structural and electrochemical implications [Internet]. Electrochimica Acta. 2001 ; 47 441-450.[citado 2024 ago. 22 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0013-4686(01)00737-xVancouver
Anaissi FJ, Demets GJ-F, Alvarez EB, Politi MJ, Toma HE. Long-term aging of vanadium(V) oxide xerogel precursor solutions: structural and electrochemical implications [Internet]. Electrochimica Acta. 2001 ; 47 441-450.[citado 2024 ago. 22 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0013-4686(01)00737-x
