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Artigo de periodico
Posterior properties of the Nakagami-m distribution using noninformative priors and applications in reliability (2018)
Ramos, Pedro Luiz; Louzada, Francisco ; Ramos, Eduardo
Fonte: IEEE Transactions on Reliability. Unidade: ICMC
Assuntos: DISTRIBUIÇÕES (PROBABILIDADE), INFERÊNCIA BAYESIANA, TEORIA DA CONFIABILIDADE, VEROSSIMILHANÇA
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ABNT
RAMOS, Pedro Luiz e LOUZADA, Francisco e RAMOS, Eduardo. Posterior properties of the Nakagami-m distribution using noninformative priors and applications in reliability. IEEE Transactions on Reliability, v. 67, n. 1, p. 105-117, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TR.2017.2778139. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Ramos, P. L., Louzada, F., & Ramos, E. (2018). Posterior properties of the Nakagami-m distribution using noninformative priors and applications in reliability. IEEE Transactions on Reliability, 67( 1), 105-117. doi:10.1109/TR.2017.2778139
NLM
Ramos PL, Louzada F, Ramos E. Posterior properties of the Nakagami-m distribution using noninformative priors and applications in reliability [Internet]. IEEE Transactions on Reliability. 2018 ; 67( 1): 105-117.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TR.2017.2778139
Vancouver
Ramos PL, Louzada F, Ramos E. Posterior properties of the Nakagami-m distribution using noninformative priors and applications in reliability [Internet]. IEEE Transactions on Reliability. 2018 ; 67( 1): 105-117.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TR.2017.2778139
Artigo de periodico
The inverse Nakagami-m distribution: a novel approach in reliability (2018)
Louzada, Francisco ; Ramos, Pedro Luiz; Nascimento, Diego
Fonte: IEEE Transactions on Reliability. Unidade: ICMC
Assuntos: ENTROPIA, MODELAGEM DE DADOS, DADOS CENSURADOS, INFERÊNCIA ESTATÍSTICA, DISTRIBUIÇÕES (PROBABILIDADE)
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ABNT
LOUZADA, Francisco e RAMOS, Pedro Luiz e NASCIMENTO, Diego. The inverse Nakagami-m distribution: a novel approach in reliability. IEEE Transactions on Reliability, v. 67, n. 3, p. 1030-1042, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TR.2018.2829721. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Louzada, F., Ramos, P. L., & Nascimento, D. (2018). The inverse Nakagami-m distribution: a novel approach in reliability. IEEE Transactions on Reliability, 67( 3), 1030-1042. doi:10.1109/TR.2018.2829721
NLM
Louzada F, Ramos PL, Nascimento D. The inverse Nakagami-m distribution: a novel approach in reliability [Internet]. IEEE Transactions on Reliability. 2018 ; 67( 3): 1030-1042.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TR.2018.2829721
Vancouver
Louzada F, Ramos PL, Nascimento D. The inverse Nakagami-m distribution: a novel approach in reliability [Internet]. IEEE Transactions on Reliability. 2018 ; 67( 3): 1030-1042.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TR.2018.2829721
Artigo de periodico
Nonparametric Bayesian Estimation of Reliabilities in a Class of Coherent Systems (2013)
Polpo, Adriano; Sinha, Debajyoti; Pereira, Carlos Alberto de Bragança
Fonte: IEEE Transactions on Reliability. Unidade: IME
Assuntos: SISTEMAS OPERACIONAIS, INFERÊNCIA BAYESIANA
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ABNT
POLPO, Adriano e SINHA, Debajyoti e PEREIRA, Carlos Alberto de Bragança. Nonparametric Bayesian Estimation of Reliabilities in a Class of Coherent Systems. IEEE Transactions on Reliability, v. 62, n. 2, p. 455-465, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TR.2013.2263033. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Polpo, A., Sinha, D., & Pereira, C. A. de B. (2013). Nonparametric Bayesian Estimation of Reliabilities in a Class of Coherent Systems. IEEE Transactions on Reliability, 62( 2), 455-465. doi:10.1109/TR.2013.2263033
NLM
Polpo A, Sinha D, Pereira CA de B. Nonparametric Bayesian Estimation of Reliabilities in a Class of Coherent Systems [Internet]. IEEE Transactions on Reliability. 2013 ; 62( 2): 455-465.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TR.2013.2263033
Vancouver
Polpo A, Sinha D, Pereira CA de B. Nonparametric Bayesian Estimation of Reliabilities in a Class of Coherent Systems [Internet]. IEEE Transactions on Reliability. 2013 ; 62( 2): 455-465.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TR.2013.2263033

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