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  • Editor de periodico

    Analytica (2008)

    Utecher, Carla (Editor); Lanças, Fernando Mauro

    Unidade: IQSC

    Subjects: METROLOGIA, LABORATÓRIOS

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    • ABNT

      LANÇAS, Fernando Mauro. Analytica. . São Paulo: DEN Editora. Disponível em: https://www.revistaanalytica.com.br/sobre-a-analytica/. Acesso em: 18 out. 2024. , 2008

    • APA

      Lanças, F. M. (2008). Analytica. São Paulo: DEN Editora. Recuperado de https://www.revistaanalytica.com.br/sobre-a-analytica/

    • NLM

      Lanças FM. Analytica [Internet]. 2008 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://www.revistaanalytica.com.br/sobre-a-analytica/

    • Vancouver

      Lanças FM. Analytica [Internet]. 2008 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://www.revistaanalytica.com.br/sobre-a-analytica/

  • Dissertação (Mestrado)

    Sistema automatizado para a medição de desvios de forma e orientação (2008)

    Sagawa, Juliana Keiko; Di Giacomo, Benedito (Orientador)

    Unidade: EESC

    Subjects: METROLOGIA, CONTROLADORES PROGRAMÁVEIS

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    • ABNT

      SAGAWA, Juliana Keiko. Sistema automatizado para a medição de desvios de forma e orientação. 2008. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2008. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18146/tde-13012014-185047/. Acesso em: 18 out. 2024.

    • APA

      Sagawa, J. K. (2008). Sistema automatizado para a medição de desvios de forma e orientação (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18146/tde-13012014-185047/

    • NLM

      Sagawa JK. Sistema automatizado para a medição de desvios de forma e orientação [Internet]. 2008 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18146/tde-13012014-185047/

    • Vancouver

      Sagawa JK. Sistema automatizado para a medição de desvios de forma e orientação [Internet]. 2008 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18146/tde-13012014-185047/

  • Artigo de periodico

    The brazilian time frequency atomic standarts program (2008)

    Ahmed, Mushtaq; Magalhães, Daniel Varela ; Bebeachibuli, Aida; Müller, Stella T.; Alves, Renato F.; Ortega, Tiago A.; Weiner, John; Bagnato, Vanderlei Salvador

    Source: Anais da Academia Brasileira de Ciências. Unidade: IFSC

    Subjects: RELÓGIO ATÔMICO, TEMPO, METROLOGIA, CÉSIO

    How to cite
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    • ABNT

      AHMED, Mushtaq et al. The brazilian time frequency atomic standarts program. Anais da Academia Brasileira de Ciências, v. 80, n. 2, p. 217-252, 2008Tradução . . Acesso em: 18 out. 2024.

    • APA

      Ahmed, M., Magalhães, D. V., Bebeachibuli, A., Müller, S. T., Alves, R. F., Ortega, T. A., et al. (2008). The brazilian time frequency atomic standarts program. Anais da Academia Brasileira de Ciências, 80( 2), 217-252.

    • NLM

      Ahmed M, Magalhães DV, Bebeachibuli A, Müller ST, Alves RF, Ortega TA, Weiner J, Bagnato VS. The brazilian time frequency atomic standarts program. Anais da Academia Brasileira de Ciências. 2008 ; 80( 2): 217-252.[citado 2024 out. 18 ]

    • Vancouver

      Ahmed M, Magalhães DV, Bebeachibuli A, Müller ST, Alves RF, Ortega TA, Weiner J, Bagnato VS. The brazilian time frequency atomic standarts program. Anais da Academia Brasileira de Ciências. 2008 ; 80( 2): 217-252.[citado 2024 out. 18 ]

  • Parte de monografia/livro

    Computer vision system for printed circuit board inspection (2008)

    Leta, Fabiana R; Feliciano, Flávio F; Martins, Flavius Portella Ribas ; Miyagi, Paulo Eigi (Editor) ; Horikawa, Oswaldo (Editor) ; Motta, José Maurício (Editor)

    Source: Mechatronics. Unidade: EP

    Subjects: CIRCUITOS ELETRÔNICOS, VISÃO COMPUTACIONAL, METROLOGIA

    PrivadoHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LETA, Fabiana R e FELICIANO, Flávio F e MARTINS, Flavius Portella Ribas. Computer vision system for printed circuit board inspection. Mechatronics. Tradução . Rio de Janeiro: ABCM, 2008. . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/5972139b-94da-4399-b57d-4a48f6930cf6/Martins_F-2008-computer%20vision%20system.pdf. Acesso em: 18 out. 2024.

    • APA

      Leta, F. R., Feliciano, F. F., & Martins, F. P. R. (2008). Computer vision system for printed circuit board inspection. In Mechatronics. Rio de Janeiro: ABCM. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/5972139b-94da-4399-b57d-4a48f6930cf6/Martins_F-2008-computer%20vision%20system.pdf

    • NLM

      Leta FR, Feliciano FF, Martins FPR. Computer vision system for printed circuit board inspection [Internet]. In: Mechatronics. Rio de Janeiro: ABCM; 2008. [citado 2024 out. 18 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/5972139b-94da-4399-b57d-4a48f6930cf6/Martins_F-2008-computer%20vision%20system.pdf

    • Vancouver

      Leta FR, Feliciano FF, Martins FPR. Computer vision system for printed circuit board inspection [Internet]. In: Mechatronics. Rio de Janeiro: ABCM; 2008. [citado 2024 out. 18 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/5972139b-94da-4399-b57d-4a48f6930cf6/Martins_F-2008-computer%20vision%20system.pdf
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