Destructive single-event effects in semiconductor devices (2018)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento 
; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Escudeiro, Rafael; Ribas, Roberto Vicençotto; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf. Acesso em: 19 nov. 2024.APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdfNLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 nov. 19 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdfVancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 nov. 19 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
