Source: Resumos. Conference titles: Reuniao da Sociedade Brasileira de Cristalografia. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
KELLERMANN, G e CRAIEVICH, A F e BITTENCOURT, D R S. Instrumentacao para a determinacao da intensidade de espalhamento de raios x a baixo angulo em escala absoluta. 1995, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Cristalografia, 1995. . Acesso em: 11 nov. 2024.APA
Kellermann, G., Craievich, A. F., & Bittencourt, D. R. S. (1995). Instrumentacao para a determinacao da intensidade de espalhamento de raios x a baixo angulo em escala absoluta. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Cristalografia.NLM
Kellermann G, Craievich AF, Bittencourt DRS. Instrumentacao para a determinacao da intensidade de espalhamento de raios x a baixo angulo em escala absoluta. Resumos. 1995 ;[citado 2024 nov. 11 ]Vancouver
Kellermann G, Craievich AF, Bittencourt DRS. Instrumentacao para a determinacao da intensidade de espalhamento de raios x a baixo angulo em escala absoluta. Resumos. 1995 ;[citado 2024 nov. 11 ]