Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller (2017)
Leite, Felipe G H; Santos, Roberto B B; Medina, Nilberto Heder; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de 
; Giacomini, Renato Camargo; Added, Nemitala; Aguirre, Fernando; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Vargas, Fabian; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: IEEE Xplore. Conference titles: IEEE Latin American Test Symposium (LATS). Unidade: IF
Subjects: RAIOS X, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
LEITE, Felipe G H et al. Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller. IEEE Xplore. New York: IEEE. Disponível em: https://doi.org/10.1109/LATW.2017.7906762. Acesso em: 19 nov. 2024. , 2017APA
Leite, F. G. H., Santos, R. B. B., Medina, N. H., Aguiar, V. Â. P. de, Giacomini, R. C., Added, N., et al. (2017). Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller. IEEE Xplore. New York: IEEE. doi:10.1109/LATW.2017.7906762NLM
Leite FGH, Santos RBB, Medina NH, Aguiar VÂP de, Giacomini RC, Added N, Aguirre F, Macchione ELA, Vargas F, Silveira MAG da. Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller [Internet]. IEEE Xplore. 2017 ; 2017 1-5.[citado 2024 nov. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1109/LATW.2017.7906762Vancouver
Leite FGH, Santos RBB, Medina NH, Aguiar VÂP de, Giacomini RC, Added N, Aguirre F, Macchione ELA, Vargas F, Silveira MAG da. Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC Microcontroller [Internet]. IEEE Xplore. 2017 ; 2017 1-5.[citado 2024 nov. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1109/LATW.2017.7906762
