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  • Artigo de periodico

    ZnO extended-gate field-effect transitors as pH sensors (2005)

    Batista, P. D.; Mulato, Marcelo

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: FFCLRP

    Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BATISTA, P. D. e MULATO, Marcelo. ZnO extended-gate field-effect transitors as pH sensors. Applied Physics Letters, v. 87, p. 143508-1 - 143508-3, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2084319. Acesso em: 04 nov. 2025.

    • APA

      Batista, P. D., & Mulato, M. (2005). ZnO extended-gate field-effect transitors as pH sensors. Applied Physics Letters, 87, 143508-1 - 143508-3. doi:10.1063/1.2084319

    • NLM

      Batista PD, Mulato M. ZnO extended-gate field-effect transitors as pH sensors [Internet]. Applied Physics Letters. 2005 ; 87 143508-1 - 143508-3.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2084319

    • Vancouver

      Batista PD, Mulato M. ZnO extended-gate field-effect transitors as pH sensors [Internet]. Applied Physics Letters. 2005 ; 87 143508-1 - 143508-3.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2084319

  • Artigo de periodico

    Optical diffraction grattings produced by laser interference structuring of amorphous germanium-nitrogen alloys (2002)

    Mulato, Marcelo; Zanatta, Antonio Ricardo ; Toet, D; Chambouleyron, I E

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidades: FFCLRP, IFSC

    Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MULATO, Marcelo et al. Optical diffraction grattings produced by laser interference structuring of amorphous germanium-nitrogen alloys. Applied Physics Letters, v. 81, n. 15, p. 2731-2733, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1512307. Acesso em: 04 nov. 2025.

    • APA

      Mulato, M., Zanatta, A. R., Toet, D., & Chambouleyron, I. E. (2002). Optical diffraction grattings produced by laser interference structuring of amorphous germanium-nitrogen alloys. Applied Physics Letters, 81( 15), 2731-2733. doi:10.1063/1.1512307

    • NLM

      Mulato M, Zanatta AR, Toet D, Chambouleyron IE. Optical diffraction grattings produced by laser interference structuring of amorphous germanium-nitrogen alloys [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 81( 15): 2731-2733.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1512307

    • Vancouver

      Mulato M, Zanatta AR, Toet D, Chambouleyron IE. Optical diffraction grattings produced by laser interference structuring of amorphous germanium-nitrogen alloys [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 81( 15): 2731-2733.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1512307

  • Artigo de periodico

    Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data (2000)

    Mulato, Marcelo; Chambouleyron, Ivan Emílio; Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Martínez, José Mário

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IME

    Assuntos: FÍSICA, ÓPTICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MULATO, Marcelo et al. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, v. 77, n. 14, p. 2133-2135, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1314299. Acesso em: 04 nov. 2025.

    • APA

      Mulato, M., Chambouleyron, I. E., Birgin, E. J. G., & Martínez, J. M. (2000). Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, 77( 14), 2133-2135. doi:10.1063/1.1314299

    • NLM

      Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299

    • Vancouver

      Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299
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