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  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz e BRITO, Giancarlo Esposito de Souza e ABRAMOF, E. Nanostructure of sol-gel films by x-ray specular reflectivity. Applied Physics Letters, v. 80, n. 3, p. 407-409, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1436271. Acesso em: 08 nov. 2025.
    • APA

      Morelhão, S. L., Brito, G. E. de S., & Abramof, E. (2002). Nanostructure of sol-gel films by x-ray specular reflectivity. Applied Physics Letters, 80( 3), 407-409. doi:10.1063/1.1436271
    • NLM

      Morelhão SL, Brito GE de S, Abramof E. Nanostructure of sol-gel films by x-ray specular reflectivity [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 80( 3): 407-409.[citado 2025 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1436271
    • Vancouver

      Morelhão SL, Brito GE de S, Abramof E. Nanostructure of sol-gel films by x-ray specular reflectivity [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 80( 3): 407-409.[citado 2025 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1436271

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