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Trabalho de evento-resumo
Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo (2007)
Pojar, Mariana; Santos, Antonio Domingues dos; Romero, Sérgio; Lancarotte, Marcelo Shiroma ; Seabra, Antonio Carlos ; Souche, Yves
Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, EP
Assuntos: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, MICROSCÓPIO ÓTICO
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ABNT
POJAR, Mariana et al. Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo. 2007, Anais.. São Paulo: SBF, 2007. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf. Acesso em: 04 nov. 2025.
APA
Pojar, M., Santos, A. D. dos, Romero, S., Lancarotte, M. S., Seabra, A. C., & Souche, Y. (2007). Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo. In . São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf
NLM
Pojar M, Santos AD dos, Romero S, Lancarotte MS, Seabra AC, Souche Y. Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo [Internet]. 2007 ;[citado 2025 nov. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf
Vancouver
Pojar M, Santos AD dos, Romero S, Lancarotte MS, Seabra AC, Souche Y. Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo [Internet]. 2007 ;[citado 2025 nov. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf
Artigo de periodico
Imaging of domain wall motion in small magnetic particles through near-field microscopy (2006)
Schoenmaker, J; Santos, A. D.; Souche, Y; Seabra, A C; Sampaio, L. C.
Fonte: Applied Physics Letters. Unidades: IF, EP
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, MAGNETISMO, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
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ABNT
SCHOENMAKER, J et al. Imaging of domain wall motion in small magnetic particles through near-field microscopy. Applied Physics Letters, v. 88, n. 6, p. 062506, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2172016. Acesso em: 04 nov. 2025.
APA
Schoenmaker, J., Santos, A. D., Souche, Y., Seabra, A. C., & Sampaio, L. C. (2006). Imaging of domain wall motion in small magnetic particles through near-field microscopy. Applied Physics Letters, 88( 6), 062506. doi:10.1063/1.2172016
NLM
Schoenmaker J, Santos AD, Souche Y, Seabra AC, Sampaio LC. Imaging of domain wall motion in small magnetic particles through near-field microscopy [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 6): 062506.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2172016
Vancouver
Schoenmaker J, Santos AD, Souche Y, Seabra AC, Sampaio LC. Imaging of domain wall motion in small magnetic particles through near-field microscopy [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 6): 062506.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2172016
Trabalho de evento-resumo
Produção de pontas por ataque químico para microscopia magnetoóptica de varredura em campo-próximo (2005)
Schoenmaker, Jeroen ; Pojar, Mariana ; Melo, L G C; Barrera, A D B; Santos, Antonio Domingues dos; Seabra, Antonio Carlos
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, EP
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen et al. Produção de pontas por ataque químico para microscopia magnetoóptica de varredura em campo-próximo. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileiro de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0900-1.pdf. Acesso em: 04 nov. 2025.
APA
Schoenmaker, J., Pojar, M., Melo, L. G. C., Barrera, A. D. B., Santos, A. D. dos, & Seabra, A. C. (2005). Produção de pontas por ataque químico para microscopia magnetoóptica de varredura em campo-próximo. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileiro de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0900-1.pdf
NLM
Schoenmaker J, Pojar M, Melo LGC, Barrera ADB, Santos AD dos, Seabra AC. Produção de pontas por ataque químico para microscopia magnetoóptica de varredura em campo-próximo [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2025 nov. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0900-1.pdf
Vancouver
Schoenmaker J, Pojar M, Melo LGC, Barrera ADB, Santos AD dos, Seabra AC. Produção de pontas por ataque químico para microscopia magnetoóptica de varredura em campo-próximo [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2025 nov. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0900-1.pdf
Artigo de periodico
Local hysteresis loop measurements by magneto-optical scanning near-field optical microscope (2005)
Schoenmaker, Jeroen ; Santos, A. D.; Seabra, Antonio Carlos ; Souche, Yves; Jamet, Jean-Pierre; Thiaville, André ; Ferré, Jacques
Fonte: Journal of Applied Physics. Unidades: IF, EP
Assuntos: MAGNETISMO, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen et al. Local hysteresis loop measurements by magneto-optical scanning near-field optical microscope. Journal of Applied Physics, v. 98, n. 8, p. 086108/1-086108/6, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2115089. Acesso em: 04 nov. 2025.
APA
Schoenmaker, J., Santos, A. D., Seabra, A. C., Souche, Y., Jamet, J. -P., Thiaville, A., & Ferré, J. (2005). Local hysteresis loop measurements by magneto-optical scanning near-field optical microscope. Journal of Applied Physics, 98( 8), 086108/1-086108/6. doi:10.1063/1.2115089
NLM
Schoenmaker J, Santos AD, Seabra AC, Souche Y, Jamet J-P, Thiaville A, Ferré J. Local hysteresis loop measurements by magneto-optical scanning near-field optical microscope [Internet]. Journal of Applied Physics. 2005 ; 98( 8): 086108/1-086108/6.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2115089
Vancouver
Schoenmaker J, Santos AD, Seabra AC, Souche Y, Jamet J-P, Thiaville A, Ferré J. Local hysteresis loop measurements by magneto-optical scanning near-field optical microscope [Internet]. Journal of Applied Physics. 2005 ; 98( 8): 086108/1-086108/6.[citado 2025 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2115089
Trabalho de evento-resumo
Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM (2004)
Schoenmaker, Jeroen ; Lancarotte, Marcelo Shiroma ; Seabra, Antonio Carlos ; Santos, Antonio Domingues dos; Souche, Yves
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidades: IF, EP
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen et al. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf. Acesso em: 04 nov. 2025.
APA
Schoenmaker, J., Lancarotte, M. S., Seabra, A. C., Santos, A. D. dos, & Souche, Y. (2004). Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
NLM
Schoenmaker J, Lancarotte MS, Seabra AC, Santos AD dos, Souche Y. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2025 nov. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
Vancouver
Schoenmaker J, Lancarotte MS, Seabra AC, Santos AD dos, Souche Y. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2025 nov. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
Trabalho de evento-resumo
Desenvolvimento de um microscópio óptico de varredura em campo próximo (2001)
Lancarotte, Marcelo Shiroma ; Santi, Carlos Eduardo; Nobrega, Leonardo N; Santos, A. D.; Souche, Y
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: SUPERFÍCIE FÍSICA, FILMES FINOS, MICROSCÓPIO ÓTICO, MATERIAIS MAGNÉTICOS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LANCAROTTE, Marcelo Shiroma et al. Desenvolvimento de um microscópio óptico de varredura em campo próximo. 2001, Anais.. São Paulo: SBF, 2001. . Acesso em: 04 nov. 2025.
APA
Lancarotte, M. S., Santi, C. E., Nobrega, L. N., Santos, A. D., & Souche, Y. (2001). Desenvolvimento de um microscópio óptico de varredura em campo próximo. In Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Lancarotte MS, Santi CE, Nobrega LN, Santos AD, Souche Y. Desenvolvimento de um microscópio óptico de varredura em campo próximo. Resumos. 2001 ;[citado 2025 nov. 04 ]
Vancouver
Lancarotte MS, Santi CE, Nobrega LN, Santos AD, Souche Y. Desenvolvimento de um microscópio óptico de varredura em campo próximo. Resumos. 2001 ;[citado 2025 nov. 04 ]

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