Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP (2009)
Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica. Unidade: IFSubjects: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO), ACELERADOR DE PARTÍCULAS
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ABNT
JAHNKE, Cristiane et al. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP. 2009, Anais.. São Paulo: USP, 2009. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025.APA
Jahnke, C., Silva, T. F. da, Martins, M. N., & Vanin, V. R. (2009). Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP. In . São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdfNLM
Jahnke C, Silva TF da, Martins MN, Vanin VR. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP [Internet]. 2009 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdfVancouver
Jahnke C, Silva TF da, Martins MN, Vanin VR. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP [Internet]. 2009 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf
