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  • Trabalho de evento-resumo

    Análise de reprodutibilidade dos eletroímãs de 90? do Mícrotron do IFUSP (2009)

    Jahnke, C; Silva, T F; Martins, Marcos Nogueira

    Source: Resumo. Conference titles: Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ACELERADOR DE PARTÍCULAS

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    • ABNT

      JAHNKE, C e SILVA, T F e MARTINS, Marcos Nogueira. Análise de reprodutibilidade dos eletroímãs de 90? do Mícrotron do IFUSP. 2009, Anais.. São Paulo: SBF, 2009. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xiv/sys/resumos/R0071-1.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025.

    • APA

      Jahnke, C., Silva, T. F., & Martins, M. N. (2009). Análise de reprodutibilidade dos eletroímãs de 90? do Mícrotron do IFUSP. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xiv/sys/resumos/R0071-1.pdf

    • NLM

      Jahnke C, Silva TF, Martins MN. Análise de reprodutibilidade dos eletroímãs de 90? do Mícrotron do IFUSP [Internet]. Resumo. 2009 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xiv/sys/resumos/R0071-1.pdf

    • Vancouver

      Jahnke C, Silva TF, Martins MN. Análise de reprodutibilidade dos eletroímãs de 90? do Mícrotron do IFUSP [Internet]. Resumo. 2009 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xiv/sys/resumos/R0071-1.pdf

  • Trabalho de evento-resumo

    Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP (2009)

    Jahnke, Cristiane; Silva, Tiago Fiorini da; Martins, Marcos Nogueira; Vanin, Vito Roberto

    Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO), ACELERADOR DE PARTÍCULAS

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      JAHNKE, Cristiane et al. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP. 2009, Anais.. São Paulo: USP, 2009. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025.

    • APA

      Jahnke, C., Silva, T. F. da, Martins, M. N., & Vanin, V. R. (2009). Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP. In . São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf

    • NLM

      Jahnke C, Silva TF da, Martins MN, Vanin VR. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP [Internet]. 2009 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf

    • Vancouver

      Jahnke C, Silva TF da, Martins MN, Vanin VR. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP [Internet]. 2009 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf
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