Comparing finite state machine test coverage criteria (2009)
Simão, Adenilso da Silva 
; Petrenko, A.; Maldonado, José Carlos
Source: IET Software. Unidade: ICMC
Subjects: ENGENHARIA DE SOFTWARE, SISTEMAS DE INFORMAÇÃO
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ABNT
SIMÃO, Adenilso da Silva e PETRENKO, A. e MALDONADO, José Carlos. Comparing finite state machine test coverage criteria. IET Software, v. 3, n. 2, p. 91-105, 2009Tradução . . Disponível em: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.do?tp=&arnumber=4811928&isnumber=4811925. Acesso em: 17 nov. 2024.APA
Simão, A. da S., Petrenko, A., & Maldonado, J. C. (2009). Comparing finite state machine test coverage criteria. IET Software, 3( 2), 91-105. Recuperado de http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.do?tp=&arnumber=4811928&isnumber=4811925NLM
Simão A da S, Petrenko A, Maldonado JC. Comparing finite state machine test coverage criteria [Internet]. IET Software. 2009 ; 3( 2): 91-105.[citado 2024 nov. 17 ] Available from: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.do?tp=&arnumber=4811928&isnumber=4811925Vancouver
Simão A da S, Petrenko A, Maldonado JC. Comparing finite state machine test coverage criteria [Internet]. IET Software. 2009 ; 3( 2): 91-105.[citado 2024 nov. 17 ] Available from: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.do?tp=&arnumber=4811928&isnumber=4811925
