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  • Trabalho de evento-resumo

    Simulation of UV-Vis absorption spectra of PANI/PVS films used to enhance polymeric electroluminescent devices performance (2006)

    Lima, John Paul Hempel; Andrade, Adnei Melges de

    Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: EP

    Assunto: MATERIAIS

    Como citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LIMA, John Paul Hempel e ANDRADE, Adnei Melges de. Simulation of UV-Vis absorption spectra of PANI/PVS films used to enhance polymeric electroluminescent devices performance. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 08 ago. 2024.

    • APA

      Lima, J. P. H., & Andrade, A. M. de. (2006). Simulation of UV-Vis absorption spectra of PANI/PVS films used to enhance polymeric electroluminescent devices performance. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.

    • NLM

      Lima JPH, Andrade AM de. Simulation of UV-Vis absorption spectra of PANI/PVS films used to enhance polymeric electroluminescent devices performance. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 ago. 08 ]

    • Vancouver

      Lima JPH, Andrade AM de. Simulation of UV-Vis absorption spectra of PANI/PVS films used to enhance polymeric electroluminescent devices performance. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 ago. 08 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    Programa SILICIO: agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado (2002)

    Lima, John Paul Hempel; Dirani, Ely Antonio Tadeu ; Nardes, Alexandre Mantovani; Fonseca, Fernando Josepetti ; Andrade, Adnei Melges de

    Fonte: SIICUSP;CICTE: resumos. Nome do evento: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP. Unidade: EP

    Assunto: FILMES FINOS

    Acesso à fonteComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LIMA, John Paul Hempel et al. Programa SILICIO: agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado. 2002, Anais.. São Paulo: USP, 2002. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htm. Acesso em: 08 ago. 2024.

    • APA

      Lima, J. P. H., Dirani, E. A. T., Nardes, A. M., Fonseca, F. J., & Andrade, A. M. de. (2002). Programa SILICIO: agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado. In SIICUSP;CICTE: resumos. São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htm

    • NLM

      Lima JPH, Dirani EAT, Nardes AM, Fonseca FJ, Andrade AM de. Programa SILICIO: agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado [Internet]. SIICUSP;CICTE: resumos. 2002 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htm

    • Vancouver

      Lima JPH, Dirani EAT, Nardes AM, Fonseca FJ, Andrade AM de. Programa SILICIO: agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado [Internet]. SIICUSP;CICTE: resumos. 2002 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htm
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