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  • Source: Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      SCHREUTELKAMP, R et al. Combined 'delta' L and series resistance extraction of LDD MOSFETs at 77K. Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Tradução . Pennington: The Electrochemical Society, 1995. . . Acesso em: 07 set. 2024.
    • APA

      Schreutelkamp, R., Martino, J. A., Simoen, E., Deferm, L., & Claeys, C. (1995). Combined 'delta' L and series resistance extraction of LDD MOSFETs at 77K. In Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Pennington: The Electrochemical Society.
    • NLM

      Schreutelkamp R, Martino JA, Simoen E, Deferm L, Claeys C. Combined 'delta' L and series resistance extraction of LDD MOSFETs at 77K. In: Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Pennington: The Electrochemical Society; 1995. [citado 2024 set. 07 ]
    • Vancouver

      Schreutelkamp R, Martino JA, Simoen E, Deferm L, Claeys C. Combined 'delta' L and series resistance extraction of LDD MOSFETs at 77K. In: Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Pennington: The Electrochemical Society; 1995. [citado 2024 set. 07 ]
  • Unidade: EP

    Subjects: MATERIAIS, MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      YUNAKA, Nelson Takashi. Desenvolvimento de um processo litográfico para microeletrônica. 1995. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1995. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15082024-074221/pt-br.php. Acesso em: 07 set. 2024.
    • APA

      Yunaka, N. T. (1995). Desenvolvimento de um processo litográfico para microeletrônica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15082024-074221/pt-br.php
    • NLM

      Yunaka NT. Desenvolvimento de um processo litográfico para microeletrônica [Internet]. 1995 ;[citado 2024 set. 07 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15082024-074221/pt-br.php
    • Vancouver

      Yunaka NT. Desenvolvimento de um processo litográfico para microeletrônica [Internet]. 1995 ;[citado 2024 set. 07 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15082024-074221/pt-br.php
  • Source: Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Unidade: EP

    Subjects: MICROELETRÔNICA, CIRCUITOS INTEGRADOS

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    • ABNT

      MARTINO, João Antonio e SIMOEN, Eddy e CLAEYS, Cor. Theoretical and experimental study of the front and back interface trap density in accumulation mode SOI MOSFETs at low temperatures. Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Tradução . Pennington: The Electrochemical Society, 1995. . . Acesso em: 07 set. 2024.
    • APA

      Martino, J. A., Simoen, E., & Claeys, C. (1995). Theoretical and experimental study of the front and back interface trap density in accumulation mode SOI MOSFETs at low temperatures. In Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Pennington: The Electrochemical Society.
    • NLM

      Martino JA, Simoen E, Claeys C. Theoretical and experimental study of the front and back interface trap density in accumulation mode SOI MOSFETs at low temperatures. In: Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Pennington: The Electrochemical Society; 1995. [citado 2024 set. 07 ]
    • Vancouver

      Martino JA, Simoen E, Claeys C. Theoretical and experimental study of the front and back interface trap density in accumulation mode SOI MOSFETs at low temperatures. In: Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity. Pennington: The Electrochemical Society; 1995. [citado 2024 set. 07 ]

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