Estudo e caracterização do efeito do descasamento de parâmetros em tapered buffers CMOS (2005)
Aragão, Alexandre de Jesus; Van Noije, Wilhelmus Adrianus Maria (Orientador) 
Subjects: MICROELETRÔNICA, CIRCUITOS INTEGRADOS MOS
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ABNT
ARAGÃO, Alexandre de Jesus. Estudo e caracterização do efeito do descasamento de parâmetros em tapered buffers CMOS. 2005. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2005. . Acesso em: 13 nov. 2024.APA
Aragão, A. de J. (2005). Estudo e caracterização do efeito do descasamento de parâmetros em tapered buffers CMOS (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.NLM
Aragão A de J. Estudo e caracterização do efeito do descasamento de parâmetros em tapered buffers CMOS. 2005 ;[citado 2024 nov. 13 ]Vancouver
Aragão A de J. Estudo e caracterização do efeito do descasamento de parâmetros em tapered buffers CMOS. 2005 ;[citado 2024 nov. 13 ]
