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Artigo de periodico
Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique (2011)
Gesualdi, M. R. R.; Jacinto, C.; Andrade, A. A.; Catunda, Tomaz ; Muramatsu, Mikiya
Fonte: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. Unidades: IFSC, IF
Assuntos: PROPRIEDADES DOS MATERIAIS, LENTES (PROPRIEDADES TÉRMICAS), ÓPTICA (PROPRIEDADES)
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ABNT
GESUALDI, M. R. R. et al. Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, v. 13, n. 6, p. 643-647, 2011Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf. Acesso em: 02 nov. 2025.
APA
Gesualdi, M. R. R., Jacinto, C., Andrade, A. A., Catunda, T., & Muramatsu, M. (2011). Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 13( 6), 643-647. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf
NLM
Gesualdi MRR, Jacinto C, Andrade AA, Catunda T, Muramatsu M. Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique [Internet]. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 2011 ; 13( 6): 643-647.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf
Vancouver
Gesualdi MRR, Jacinto C, Andrade AA, Catunda T, Muramatsu M. Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique [Internet]. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 2011 ; 13( 6): 643-647.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf
Parte de monografia/livro
Progress on oxide glasses: applications in phtonics (2004)
Pontuschka, W. M.; Barbosa, L C
Fonte: Non-Crystalline Materials for Optoelectronics. Unidade: IF
Assuntos: MATERIAIS NÃO METÁLICOS, VIDRO, ESTRUTURA DOS MATERIAIS
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ABNT
PONTUSCHKA, W. M. e BARBOSA, L C. Progress on oxide glasses: applications in phtonics. Non-Crystalline Materials for Optoelectronics. Tradução . Bucharest: INOE Publishing House, 2004. . Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd017.pdf. Acesso em: 02 nov. 2025.
APA
Pontuschka, W. M., & Barbosa, L. C. (2004). Progress on oxide glasses: applications in phtonics. In Non-Crystalline Materials for Optoelectronics. Bucharest: INOE Publishing House. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd017.pdf
NLM
Pontuschka WM, Barbosa LC. Progress on oxide glasses: applications in phtonics [Internet]. In: Non-Crystalline Materials for Optoelectronics. Bucharest: INOE Publishing House; 2004. [citado 2025 nov. 02 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd017.pdf
Vancouver
Pontuschka WM, Barbosa LC. Progress on oxide glasses: applications in phtonics [Internet]. In: Non-Crystalline Materials for Optoelectronics. Bucharest: INOE Publishing House; 2004. [citado 2025 nov. 02 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd017.pdf
Artigo de periodico
Neutral atomic centers in amorphous systems (2002)
Pontuschka, W. M.
Fonte: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. Unidade: IF
Assunto: ÓPTICA ELETRÔNICA
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ABNT
PONTUSCHKA, W. M. Neutral atomic centers in amorphous systems. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, v. 4, n. 3, 2002Tradução . . Acesso em: 02 nov. 2025.
APA
Pontuschka, W. M. (2002). Neutral atomic centers in amorphous systems. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 4( 3).
NLM
Pontuschka WM. Neutral atomic centers in amorphous systems. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 2002 ; 4( 3):[citado 2025 nov. 02 ]
Vancouver
Pontuschka WM. Neutral atomic centers in amorphous systems. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 2002 ; 4( 3):[citado 2025 nov. 02 ]

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