ReP USP - Resultado da busca

Filtros : "IF" "MATSUOKA, MASAO" "2008" Removidos: "Watanabe, S." "Livro de Resumos" "GLICOSE" "ESTRUTURA NUCLEAR" "Pontuschka, W. M." "ls" Limpar

Filtros

Trabalho de evento-resumo
Caracterização de filmes finos de nitreto de índio para fabricação de sensores que operam na região do IR (2008)
Sparvoli, Marina; Matsuoka, Masao; Chubaci, Jose Fernando Diniz; Lopes, Karina Carvalho; Avanci, Luís Humberto
Source: Resumo. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SPARVOLI, Marina et al. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio para fabricação de sensores que operam na região do IR. 2008, Anais.. São Paulo: SBF, 2008. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0963-1.pdf. Acesso em: 28 jun. 2024.
APA
Sparvoli, M., Matsuoka, M., Chubaci, J. F. D., Lopes, K. C., & Avanci, L. H. (2008). Caracterização de filmes finos de nitreto de índio para fabricação de sensores que operam na região do IR. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0963-1.pdf
NLM
Sparvoli M, Matsuoka M, Chubaci JFD, Lopes KC, Avanci LH. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio para fabricação de sensores que operam na região do IR [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2024 jun. 28 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0963-1.pdf
Vancouver
Sparvoli M, Matsuoka M, Chubaci JFD, Lopes KC, Avanci LH. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio para fabricação de sensores que operam na região do IR [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2024 jun. 28 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0963-1.pdf
Artigo de periodico
X-ray photoelectron spectroscopy analysis of zirconium nitride-like filmsprepared on Si(100) substrates by ion beam assisted deposition (2008)
Matsuoka, Masao; Isotani, Sadao; Mamani, Wilmer Alexe Sucasaire; Kuratani, N; Ogata, K
Source: Surface and Coatings Technology. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, ESTRUTURA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MATSUOKA, Masao et al. X-ray photoelectron spectroscopy analysis of zirconium nitride-like filmsprepared on Si(100) substrates by ion beam assisted deposition. Surface and Coatings Technology, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2007.11.019. Acesso em: 28 jun. 2024.
APA
Matsuoka, M., Isotani, S., Mamani, W. A. S., Kuratani, N., & Ogata, K. (2008). X-ray photoelectron spectroscopy analysis of zirconium nitride-like filmsprepared on Si(100) substrates by ion beam assisted deposition. Surface and Coatings Technology. doi:10.1016/j.surfcoat.2007.11.019
NLM
Matsuoka M, Isotani S, Mamani WAS, Kuratani N, Ogata K. X-ray photoelectron spectroscopy analysis of zirconium nitride-like filmsprepared on Si(100) substrates by ion beam assisted deposition [Internet]. Surface and Coatings Technology. 2008 ;[citado 2024 jun. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2007.11.019
Vancouver
Matsuoka M, Isotani S, Mamani WAS, Kuratani N, Ogata K. X-ray photoelectron spectroscopy analysis of zirconium nitride-like filmsprepared on Si(100) substrates by ion beam assisted deposition [Internet]. Surface and Coatings Technology. 2008 ;[citado 2024 jun. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2007.11.019

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo 2012 - 2024