Filtros : "AIP Advances" "SEMICONDUTORES" Limpar

Filtros



Refine with date range


  • Source: AIP Advances. Unidade: EP

    Subjects: FILMES FINOS, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA FÍSICA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SCHELL, Juliana et al. Implantation of cobalt in SnO2 thin films studied by TDPAC. AIP Advances, v. 7, n. 5, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4983270. Acesso em: 15 nov. 2024.
    • APA

      Schell, J., Dang, T. T., Viaden, R., Mansano, R. D., Lupascu, D. C., & Carbonari, A. W. (2017). Implantation of cobalt in SnO2 thin films studied by TDPAC. AIP Advances, 7( 5). doi:10.1063/1.4983270
    • NLM

      Schell J, Dang TT, Viaden R, Mansano RD, Lupascu DC, Carbonari AW. Implantation of cobalt in SnO2 thin films studied by TDPAC [Internet]. AIP Advances. 2017 ; 7( 5):[citado 2024 nov. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4983270
    • Vancouver

      Schell J, Dang TT, Viaden R, Mansano RD, Lupascu DC, Carbonari AW. Implantation of cobalt in SnO2 thin films studied by TDPAC [Internet]. AIP Advances. 2017 ; 7( 5):[citado 2024 nov. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4983270

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2024