Microscopía de fuerza atómica (2003)
Marega Junior, Euclydes 
; González-Borrero, Pedro Pablo; Rodrigues, Sérgio Gasques; Alves, Marcus Vinícius
Source: Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, METROLOGIA, INSTRUMENTOS DE PRECISÃO
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ABNT
MAREGA JUNIOR, Euclydes et al. Microscopía de fuerza atómica. Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Tradução . Madrid: CYTED, 2003. . . Acesso em: 02 nov. 2024.APA
Marega Junior, E., González-Borrero, P. P., Rodrigues, S. G., & Alves, M. V. (2003). Microscopía de fuerza atómica. In Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Madrid: CYTED.NLM
Marega Junior E, González-Borrero PP, Rodrigues SG, Alves MV. Microscopía de fuerza atómica. In: Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Madrid: CYTED; 2003. [citado 2024 nov. 02 ]Vancouver
Marega Junior E, González-Borrero PP, Rodrigues SG, Alves MV. Microscopía de fuerza atómica. In: Nanoestructuras semiconductoras : fundamentos y aplicaciones. Madrid: CYTED; 2003. [citado 2024 nov. 02 ]
