ReP USP - Resultado da busca

Trabalho de evento
A new technique for measuring nonlinear refractive index (1998)
Martinelli, M.; Bian, S; Horowicz, Ricardo Josué; Leite, J. R.
Source: Technical digest. Conference titles: Conference on Lasers and Electro-Optics. Unidade: IF
Assunto: ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MARTINELLI, M. et al. A new technique for measuring nonlinear refractive index. 1998, Anais.. San Francisco: IEEE/LEOS/OSA, 1998. . Acesso em: 07 set. 2024.
APA
Martinelli, M., Bian, S., Horowicz, R. J., & Leite, J. R. (1998). A new technique for measuring nonlinear refractive index. In Technical digest. San Francisco: IEEE/LEOS/OSA.
NLM
Martinelli M, Bian S, Horowicz RJ, Leite JR. A new technique for measuring nonlinear refractive index. Technical digest. 1998 ;[citado 2024 set. 07 ]
Vancouver
Martinelli M, Bian S, Horowicz RJ, Leite JR. A new technique for measuring nonlinear refractive index. Technical digest. 1998 ;[citado 2024 set. 07 ]
Artigo de periodico
Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam (1998)
Martinelli, M.; Bian, S; Leite, J. R.; Horowicz, Ricardo Josué
Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF
Assunto: FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MARTINELLI, M. et al. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam. Applied Physics Letters, v. 72, n. 12, p. 1427-1429, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.120584. Acesso em: 07 set. 2024.
APA
Martinelli, M., Bian, S., Leite, J. R., & Horowicz, R. J. (1998). Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam. Applied Physics Letters, 72( 12), 1427-1429. doi:10.1063/1.120584
NLM
Martinelli M, Bian S, Leite JR, Horowicz RJ. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 72( 12): 1427-1429.[citado 2024 set. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120584
Vancouver
Martinelli M, Bian S, Leite JR, Horowicz RJ. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 72( 12): 1427-1429.[citado 2024 set. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120584
Trabalho de evento-resumo
Efeitos de Espelho Térmico em GaAs (1997)
Martinelli, Marcelo; Souza, José Brito de; Leite, J. R.; Horowicz, Ricardo Josué
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MARTINELLI, Marcelo et al. Efeitos de Espelho Térmico em GaAs. 1997, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1997. . Acesso em: 07 set. 2024.
APA
Martinelli, M., Souza, J. B. de, Leite, J. R., & Horowicz, R. J. (1997). Efeitos de Espelho Térmico em GaAs. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Martinelli M, Souza JB de, Leite JR, Horowicz RJ. Efeitos de Espelho Térmico em GaAs. Resumos. 1997 ;[citado 2024 set. 07 ]
Vancouver
Martinelli M, Souza JB de, Leite JR, Horowicz RJ. Efeitos de Espelho Térmico em GaAs. Resumos. 1997 ;[citado 2024 set. 07 ]

USP Schools

ReP

Filtros

Authors