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  • Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF

    Assunto: RAIOS X

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    • ABNT

      BERNARDES, S et al. Trace elements levels in serum of skin cancer patient. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/152.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
    • APA

      Bernardes, S., Barbosa, M. D. L., Pinheiro, T., Pinheiro, R. M., Santos, I. D. A. O., Tabacniks, M. H., et al. (2011). Trace elements levels in serum of skin cancer patient. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/152.pdf
    • NLM

      Bernardes S, Barbosa MDL, Pinheiro T, Pinheiro RM, Santos IDAO, Tabacniks MH, Bosco FAR, Oliveira AF, Shie JN. Trace elements levels in serum of skin cancer patient [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/152.pdf
    • Vancouver

      Bernardes S, Barbosa MDL, Pinheiro T, Pinheiro RM, Santos IDAO, Tabacniks MH, Bosco FAR, Oliveira AF, Shie JN. Trace elements levels in serum of skin cancer patient [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/152.pdf
  • Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF

    Assunto: RAIOS X

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    • ABNT

      SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
    • APA

      Silveira, M. A. G. da, Cirne, K. H., Seixas Jr, L. E., Lima, J. A. de, Barbosa, M. D. L., Tabacniks, M. H., et al. (2011). Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
    • NLM

      Silveira MAG da, Cirne KH, Seixas Jr LE, Lima JA de, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W, Santos RBB. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
    • Vancouver

      Silveira MAG da, Cirne KH, Seixas Jr LE, Lima JA de, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W, Santos RBB. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
  • Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF

    Assunto: RAIOS X

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    • ABNT

      AGUIRRE, F R et al. Thin target PIXE calibration using thick target yields. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
    • APA

      Aguirre, F. R., Tabacniks, M. H., Rizzuto, M. A., Added, N., & Barbosa, M. D. L. (2011). Thin target PIXE calibration using thick target yields. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
    • NLM

      Aguirre FR, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL. Thin target PIXE calibration using thick target yields [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
    • Vancouver

      Aguirre FR, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL. Thin target PIXE calibration using thick target yields [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf

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