Source: Programa e Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA, SILÍCIO, RAIOS X
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ABNT
ETGENS, V H e DENICOLO, I. Caracterizacao de monocristais de silicio utilizando microscopia de infravermelho e topografia de raios-x. 1987, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1987. . Acesso em: 04 out. 2024.APA
Etgens, V. H., & Denicolo, I. (1987). Caracterizacao de monocristais de silicio utilizando microscopia de infravermelho e topografia de raios-x. In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.NLM
Etgens VH, Denicolo I. Caracterizacao de monocristais de silicio utilizando microscopia de infravermelho e topografia de raios-x. Programa e Resumos. 1987 ;[citado 2024 out. 04 ]Vancouver
Etgens VH, Denicolo I. Caracterizacao de monocristais de silicio utilizando microscopia de infravermelho e topografia de raios-x. Programa e Resumos. 1987 ;[citado 2024 out. 04 ]