Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica (1999)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da 
; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira (Orientador)
Subjects: MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da. Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica. 1999. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1999. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/. Acesso em: 17 out. 2024.APA
Silveira, M. A. G. da. (1999). Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/NLM
Silveira MAG da. Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica [Internet]. 1999 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/Vancouver
Silveira MAG da. Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica [Internet]. 1999 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/
