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Dissertação (Mestrado)
Sistema de interferometria por micro-ondas em 60GHz para a medição de ângulo e distância de alvos, baseado na estrutura de seis portas sob tecnologia de membrana de nanofios metálicos (2024)
Aranda, Walter Santiago Campos; Serrano, Ariana Lacorte Caniato (Orientador) ; Rehder, Gustavo Pamplona (coorient)
Unidade: EP
Subjects: ANTENAS, INTERFEROMETRIA
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ABNT
ARANDA, Walter Santiago Campos. Sistema de interferometria por micro-ondas em 60GHz para a medição de ângulo e distância de alvos, baseado na estrutura de seis portas sob tecnologia de membrana de nanofios metálicos. 2024. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2024. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-23052024-112553/pt-br.php. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Aranda, W. S. C. (2024). Sistema de interferometria por micro-ondas em 60GHz para a medição de ângulo e distância de alvos, baseado na estrutura de seis portas sob tecnologia de membrana de nanofios metálicos (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-23052024-112553/pt-br.php
NLM
Aranda WSC. Sistema de interferometria por micro-ondas em 60GHz para a medição de ângulo e distância de alvos, baseado na estrutura de seis portas sob tecnologia de membrana de nanofios metálicos [Internet]. 2024 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-23052024-112553/pt-br.php
Vancouver
Aranda WSC. Sistema de interferometria por micro-ondas em 60GHz para a medição de ângulo e distância de alvos, baseado na estrutura de seis portas sob tecnologia de membrana de nanofios metálicos [Internet]. 2024 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-23052024-112553/pt-br.php
Artigo de periodico
Development of digital holographic microscopy by reflection for analysis of surface (2018)
Valin Fernández, Meylí ; Gonçalves, Edison; Riviera, Jose Luis Valin ; Ricardo, J; Fernandez-Abreu, Maria Elena; Vaz, Mário Augusto Pires
Source: Results in Physics. Unidade: EP
Subjects: HOLOGRAFIA DIGITAL, INTERFEROMETRIA, MICROSCOPIA, PROCESSAMENTO DE IMAGENS
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ABNT
VALIN FERNÁNDEZ, Meylí et al. Development of digital holographic microscopy by reflection for analysis of surface. Results in Physics, v. 11, p. 182-187, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.rinp.2018.08.050. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Valin Fernández, M., Gonçalves, E., Riviera, J. L. V., Ricardo, J., Fernandez-Abreu, M. E., & Vaz, M. A. P. (2018). Development of digital holographic microscopy by reflection for analysis of surface. Results in Physics, 11, 182-187. doi:10.1016/j.rinp.2018.08.050
NLM
Valin Fernández M, Gonçalves E, Riviera JLV, Ricardo J, Fernandez-Abreu ME, Vaz MAP. Development of digital holographic microscopy by reflection for analysis of surface [Internet]. Results in Physics. 2018 ;11 182-187.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.rinp.2018.08.050
Vancouver
Valin Fernández M, Gonçalves E, Riviera JLV, Ricardo J, Fernandez-Abreu ME, Vaz MAP. Development of digital holographic microscopy by reflection for analysis of surface [Internet]. Results in Physics. 2018 ;11 182-187.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.rinp.2018.08.050
Dissertação (Mestrado)
Unidade eletrônica microprocessada para tratamento de sinais de transformadores de instrumentação ópticos e convencionais para aplicações metrológicas in situ (2017)
Nagao Junior, Shigueru ; Pellini, Eduardo Lorenzetti (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: PROCESSAMENTO DIGITAL DE SINAIS, METROLOGIA, INTERFEROMETRIA, ELETRÔNICA DIGITAL, TRANSFORMADORES E REATORES, SENSORES ÓPTICOS
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ABNT
NAGAO JUNIOR, Shigueru. Unidade eletrônica microprocessada para tratamento de sinais de transformadores de instrumentação ópticos e convencionais para aplicações metrológicas in situ. 2017. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2017. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-17032017-143745/. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Nagao Junior, S. (2017). Unidade eletrônica microprocessada para tratamento de sinais de transformadores de instrumentação ópticos e convencionais para aplicações metrológicas in situ (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-17032017-143745/
NLM
Nagao Junior S. Unidade eletrônica microprocessada para tratamento de sinais de transformadores de instrumentação ópticos e convencionais para aplicações metrológicas in situ [Internet]. 2017 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-17032017-143745/
Vancouver
Nagao Junior S. Unidade eletrônica microprocessada para tratamento de sinais de transformadores de instrumentação ópticos e convencionais para aplicações metrológicas in situ [Internet]. 2017 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-17032017-143745/
Artigo de periodico
Desarrollo del método de Moiré de proyección de franjas para la evaluación de deformaciones en premolares superiores (2017)
Valin Rivera, José Luís ; Gonçalves, Edison; Soares, Paulo Vinicíus; Milito, Giovana de Almeida; Palacios-Fernández, Francisco; Ricardo-Pérez, Jorge Octavio; Valin Fernández, Meylí ; Pérez, Jorge Octavio Ricardo
Source: Ingeniería Mecánica. Unidade: EP
Subjects: PROCESSAMENTO DIGITAL DE IMAGENS, INTERFEROMETRIA, DEFORMAÇÃO E ESTRESSES, ACABAMENTO DE SUPERFÍCIES
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ABNT
VALIN RIVERA, José Luís et al. Desarrollo del método de Moiré de proyección de franjas para la evaluación de deformaciones en premolares superiores. Ingeniería Mecánica, v. 20, n. 1, p. 22-30, 2017Tradução . . Disponível em: http://scielo.sld.cu/pdf/im/v20n1/im04117.pdf. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Valin Rivera, J. L., Gonçalves, E., Soares, P. V., Milito, G. de A., Palacios-Fernández, F., Ricardo-Pérez, J. O., et al. (2017). Desarrollo del método de Moiré de proyección de franjas para la evaluación de deformaciones en premolares superiores. Ingeniería Mecánica, 20( 1), 22-30. Recuperado de http://scielo.sld.cu/pdf/im/v20n1/im04117.pdf
NLM
Valin Rivera JL, Gonçalves E, Soares PV, Milito G de A, Palacios-Fernández F, Ricardo-Pérez JO, Valin Fernández M, Pérez JOR. Desarrollo del método de Moiré de proyección de franjas para la evaluación de deformaciones en premolares superiores [Internet]. Ingeniería Mecánica. 2017 ; 20( 1): 22-30.[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://scielo.sld.cu/pdf/im/v20n1/im04117.pdf
Vancouver
Valin Rivera JL, Gonçalves E, Soares PV, Milito G de A, Palacios-Fernández F, Ricardo-Pérez JO, Valin Fernández M, Pérez JOR. Desarrollo del método de Moiré de proyección de franjas para la evaluación de deformaciones en premolares superiores [Internet]. Ingeniería Mecánica. 2017 ; 20( 1): 22-30.[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://scielo.sld.cu/pdf/im/v20n1/im04117.pdf
Artigo de periodico
Nanodisplacement measurements of piezoelectric flextensional actuators using a new interferometry homodyne method (2015)
Galeti, José Henrique ; Higuti, Ricardo Tokio ; Silva, Emílio Carlos Nelli ; Kitano, Cláudio
Source: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. Unidade: EP
Subjects: ATUADORES PIEZELÉTRICOS, INTERFEROMETRIA, INTERFERÊNCIA DA LUZ, INTERFERÔMETROS
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ABNT
GALETI, José Henrique et al. Nanodisplacement measurements of piezoelectric flextensional actuators using a new interferometry homodyne method. IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, v. 64, n. 5, p. 1256 - 1265, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TIM.2015.2395551. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Galeti, J. H., Higuti, R. T., Silva, E. C. N., & Kitano, C. (2015). Nanodisplacement measurements of piezoelectric flextensional actuators using a new interferometry homodyne method. IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 64( 5), 1256 - 1265. doi:10.1109/TIM.2015.2395551
NLM
Galeti JH, Higuti RT, Silva ECN, Kitano C. Nanodisplacement measurements of piezoelectric flextensional actuators using a new interferometry homodyne method [Internet]. IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2015 ; 64( 5): 1256 - 1265.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TIM.2015.2395551
Vancouver
Galeti JH, Higuti RT, Silva ECN, Kitano C. Nanodisplacement measurements of piezoelectric flextensional actuators using a new interferometry homodyne method [Internet]. IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2015 ; 64( 5): 1256 - 1265.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TIM.2015.2395551
Dissertação (Mestrado)
Microscopia interferométrica holográfica para a caracterização de microtransdutores (2014)
Ferreira, Merilyn Santos; Barbosa, Eduardo Acedo (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: INTERFEROMETRIA, HOLOGRAFIA, MICROSCOPIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERREIRA, Merilyn Santos. Microscopia interferométrica holográfica para a caracterização de microtransdutores. 2014. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-14122014-111144/. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Ferreira, M. S. (2014). Microscopia interferométrica holográfica para a caracterização de microtransdutores (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-14122014-111144/
NLM
Ferreira MS. Microscopia interferométrica holográfica para a caracterização de microtransdutores [Internet]. 2014 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-14122014-111144/
Vancouver
Ferreira MS. Microscopia interferométrica holográfica para a caracterização de microtransdutores [Internet]. 2014 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-14122014-111144/
Trabalho de evento-resumo
New improved version of J1J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements (2013)
Pereira, Fernando; Galeti, José; Higuti, Ricardo Tokio; Silva, Emílio Carlos Nelli
Source: Program and book of abstracts. Conference titles: International Microwave and Optoelectronics Conference - IMOC. Unidade: EP
Subjects: INTERFEROMETRIA, NANOCOMPOSITOS
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ABNT
PEREIRA, Fernando et al. New improved version of J1J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements. 2013, Anais.. Piscataway: IEEE, 2013. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d8e935f8-b852-4b8c-af5b-2cb92b720372/Silva_E-2013-new%20improved%20version.pdf. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Pereira, F., Galeti, J., Higuti, R. T., & Silva, E. C. N. (2013). New improved version of J1J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements. In Program and book of abstracts. Piscataway: IEEE. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/d8e935f8-b852-4b8c-af5b-2cb92b720372/Silva_E-2013-new%20improved%20version.pdf
NLM
Pereira F, Galeti J, Higuti RT, Silva ECN. New improved version of J1J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements [Internet]. Program and book of abstracts. 2013 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d8e935f8-b852-4b8c-af5b-2cb92b720372/Silva_E-2013-new%20improved%20version.pdf
Vancouver
Pereira F, Galeti J, Higuti RT, Silva ECN. New improved version of J1J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements [Internet]. Program and book of abstracts. 2013 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d8e935f8-b852-4b8c-af5b-2cb92b720372/Silva_E-2013-new%20improved%20version.pdf
Trabalho de evento
New improved version of J1...J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements (2013)
Pereira, Fernando da Cruz; Galeti, José Henrique; Higuti, Ricardo Tokio; Kitano, Cláudio; Silva, Emílio Carlos Nelli
Source: Proceedings. Conference titles: International Microwave and Optoelectronics Conference - IMOC. Unidade: EP
Subjects: INTERFEROMETRIA, ATUADORES PIEZELÉTRICOS FLEXTENSIONAIS, NANOCOMPOSITOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PEREIRA, Fernando da Cruz et al. New improved version of J1..J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements. 2013, Anais.. Piscataway: IEEE, 2013. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/dd8e69a9-6da0-4d80-be8a-0297cf9dbee6/SilvaE-2013-New%20Improved%20Version%20of%20J1%20J4%20Interferometry%20Method%20ok.pdf. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Pereira, F. da C., Galeti, J. H., Higuti, R. T., Kitano, C., & Silva, E. C. N. (2013). New improved version of J1..J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements. In Proceedings. Piscataway: IEEE. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/dd8e69a9-6da0-4d80-be8a-0297cf9dbee6/SilvaE-2013-New%20Improved%20Version%20of%20J1%20J4%20Interferometry%20Method%20ok.pdf
NLM
Pereira F da C, Galeti JH, Higuti RT, Kitano C, Silva ECN. New improved version of J1..J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements [Internet]. Proceedings. 2013 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/dd8e69a9-6da0-4d80-be8a-0297cf9dbee6/SilvaE-2013-New%20Improved%20Version%20of%20J1%20J4%20Interferometry%20Method%20ok.pdf
Vancouver
Pereira F da C, Galeti JH, Higuti RT, Kitano C, Silva ECN. New improved version of J1..J4 interferometry method and its application to nanometric vibration measurements [Internet]. Proceedings. 2013 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/dd8e69a9-6da0-4d80-be8a-0297cf9dbee6/SilvaE-2013-New%20Improved%20Version%20of%20J1%20J4%20Interferometry%20Method%20ok.pdf
Artigo de periodico
A high dynamic range method for the direct readout of a dynamic phase change in homodyne interferometers (2012)
Marçal, Luiz Antônio Perezi; Kitano, Cláudio; Higuti, Ricardo Tokio; Nader, G; Silva, Emílio Carlos Nelli
Source: Measurement Science and Technology. Unidade: EP
Subjects: INTERFEROMETRIA, ATUADORES PIEZELÉTRICOS (SIMULAÇÃO COMPUTACIONAL;OTIMIZAÇÃO), CERÂMICA
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ABNT
MARÇAL, Luiz Antônio Perezi et al. A high dynamic range method for the direct readout of a dynamic phase change in homodyne interferometers. Measurement Science and Technology, v. 23, n. 12, p. 125201[1-12], 2012Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0957-0233/23/12/125201. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Marçal, L. A. P., Kitano, C., Higuti, R. T., Nader, G., & Silva, E. C. N. (2012). A high dynamic range method for the direct readout of a dynamic phase change in homodyne interferometers. Measurement Science and Technology, 23( 12), 125201[1-12]. doi:10.1088/0957-0233/23/12/125201
NLM
Marçal LAP, Kitano C, Higuti RT, Nader G, Silva ECN. A high dynamic range method for the direct readout of a dynamic phase change in homodyne interferometers [Internet]. Measurement Science and Technology. 2012 ; 23( 12): 125201[1-12].[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0957-0233/23/12/125201
Vancouver
Marçal LAP, Kitano C, Higuti RT, Nader G, Silva ECN. A high dynamic range method for the direct readout of a dynamic phase change in homodyne interferometers [Internet]. Measurement Science and Technology. 2012 ; 23( 12): 125201[1-12].[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0957-0233/23/12/125201
Tese (Doutorado)
Interferômetros recuperadores de baixa tensão de meia onda para sistemas interferométricos de luz branca utilizando moduladores eletro-ópticos (2011)
Silva, Luiz Pinheiro Cordovil da; Santos, Josemir Coelho (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: ALTA TENSÃO (MEDIDAS), INTERFEROMETRIA, FIBRAS ÓPTICAS, PROCESSAMENTO DE SINAIS ÓPTICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Luiz Pinheiro Cordovil da. Interferômetros recuperadores de baixa tensão de meia onda para sistemas interferométricos de luz branca utilizando moduladores eletro-ópticos. 2011. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2011. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-08122011-153421/. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Silva, L. P. C. da. (2011). Interferômetros recuperadores de baixa tensão de meia onda para sistemas interferométricos de luz branca utilizando moduladores eletro-ópticos (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-08122011-153421/
NLM
Silva LPC da. Interferômetros recuperadores de baixa tensão de meia onda para sistemas interferométricos de luz branca utilizando moduladores eletro-ópticos [Internet]. 2011 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-08122011-153421/
Vancouver
Silva LPC da. Interferômetros recuperadores de baixa tensão de meia onda para sistemas interferométricos de luz branca utilizando moduladores eletro-ópticos [Internet]. 2011 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-08122011-153421/
Dissertação (Mestrado)
Caracterização de materiais por interferometria holográfica em cristais fotorrefrativos utilizando lasers de diodo multimodo (2009)
Preto, André de Oliveira; Barbosa, Eduardo Acedo (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: HOLOGRAFIA, INTERFEROMETRIA, LASER
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PRETO, André de Oliveira. Caracterização de materiais por interferometria holográfica em cristais fotorrefrativos utilizando lasers de diodo multimodo. 2009. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2009. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-20072009-094804/. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Preto, A. de O. (2009). Caracterização de materiais por interferometria holográfica em cristais fotorrefrativos utilizando lasers de diodo multimodo (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-20072009-094804/
NLM
Preto A de O. Caracterização de materiais por interferometria holográfica em cristais fotorrefrativos utilizando lasers de diodo multimodo [Internet]. 2009 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-20072009-094804/
Vancouver
Preto A de O. Caracterização de materiais por interferometria holográfica em cristais fotorrefrativos utilizando lasers de diodo multimodo [Internet]. 2009 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-20072009-094804/
Artigo de periodico
Proposal for underwater structural analysis using the techniques of ESPI and digital holography (2009)
Valin Rivera, José Luis ; Monteiro, J. M; Lopes, H. M; Vaz, M. A. P; Palacios, Francisco; Gonçalves, Edison; Del Pino, Gilberto Garcia; Pérez, Jorge Ricardo
Source: Optics and Lasers in Engineering. Unidade: EP
Subjects: HOLOGRAFIA DIGITAL, INTERFEROMETRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALIN RIVERA, José Luis et al. Proposal for underwater structural analysis using the techniques of ESPI and digital holography. Optics and Lasers in Engineering, v. no 2009, n. 11, p. 1139-1144, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2009.06.018. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Valin Rivera, J. L., Monteiro, J. M., Lopes, H. M., Vaz, M. A. P., Palacios, F., Gonçalves, E., et al. (2009). Proposal for underwater structural analysis using the techniques of ESPI and digital holography. Optics and Lasers in Engineering, no 2009( 11), 1139-1144. doi:10.1016/j.optlaseng.2009.06.018
NLM
Valin Rivera JL, Monteiro JM, Lopes HM, Vaz MAP, Palacios F, Gonçalves E, Del Pino GG, Pérez JR. Proposal for underwater structural analysis using the techniques of ESPI and digital holography [Internet]. Optics and Lasers in Engineering. 2009 ; no 2009( 11): 1139-1144.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2009.06.018
Vancouver
Valin Rivera JL, Monteiro JM, Lopes HM, Vaz MAP, Palacios F, Gonçalves E, Del Pino GG, Pérez JR. Proposal for underwater structural analysis using the techniques of ESPI and digital holography [Internet]. Optics and Lasers in Engineering. 2009 ; no 2009( 11): 1139-1144.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2009.06.018
Trabalho de evento
Two-source method in digital holographic contouring (2004)
Ricardo Pérez, J; Gonçalves, Edison; Souza, R; Palacios, Francisco; Muramatsu, M; Valin Rivera, José Luis ; Gesualdi, M R R
Source: Proceedings of SPIE. Conference titles: Iberoamerican Meeting on Optics. Unidade: EP
Subjects: HOLOGRAFIA DIGITAL, INTERFEROMETRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RICARDO PÉREZ, J et al. Two-source method in digital holographic contouring. 2004, Anais.. Bellingham: SPIE, 2004. Disponível em: http://www.researchgate.net/profile/Jose_L_Valin/publication/253744712_Two-source_method_in_digital_holographic_contouring/links/02e7e533c4c84a35a0000000.pdf. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Ricardo Pérez, J., Gonçalves, E., Souza, R., Palacios, F., Muramatsu, M., Valin Rivera, J. L., & Gesualdi, M. R. R. (2004). Two-source method in digital holographic contouring. In Proceedings of SPIE. Bellingham: SPIE. Recuperado de http://www.researchgate.net/profile/Jose_L_Valin/publication/253744712_Two-source_method_in_digital_holographic_contouring/links/02e7e533c4c84a35a0000000.pdf
NLM
Ricardo Pérez J, Gonçalves E, Souza R, Palacios F, Muramatsu M, Valin Rivera JL, Gesualdi MRR. Two-source method in digital holographic contouring [Internet]. Proceedings of SPIE. 2004 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.researchgate.net/profile/Jose_L_Valin/publication/253744712_Two-source_method_in_digital_holographic_contouring/links/02e7e533c4c84a35a0000000.pdf
Vancouver
Ricardo Pérez J, Gonçalves E, Souza R, Palacios F, Muramatsu M, Valin Rivera JL, Gesualdi MRR. Two-source method in digital holographic contouring [Internet]. Proceedings of SPIE. 2004 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.researchgate.net/profile/Jose_L_Valin/publication/253744712_Two-source_method_in_digital_holographic_contouring/links/02e7e533c4c84a35a0000000.pdf
Artigo de periodico
Interferometria holografica aplicada aos meios e objetos transparentes (1989)
Forneris Junior, Ricardo; Forneris, Roberto Ignazio Maria Guglielmo; Gonçalves, Edison
Source: C e i: Controle e Instrumentacao. Unidades: IF, EP
Assunto: INTERFEROMETRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNERIS JUNIOR, Ricardo e FORNERIS, Roberto Ignazio Maria Guglielmo e GONÇALVES, Edison. Interferometria holografica aplicada aos meios e objetos transparentes. C e i: Controle e Instrumentacao, v. 18, n. ju 1989, p. 38-40, 1989Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/1318f57a-6e5c-4f12-92f4-1009e58ff304/Gon%C3%A7alves-1989-Interferometria%20ok.pdf. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Forneris Junior, R., Forneris, R. I. M. G., & Gonçalves, E. (1989). Interferometria holografica aplicada aos meios e objetos transparentes. C e i: Controle e Instrumentacao, 18( ju 1989), 38-40. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/1318f57a-6e5c-4f12-92f4-1009e58ff304/Gon%C3%A7alves-1989-Interferometria%20ok.pdf
NLM
Forneris Junior R, Forneris RIMG, Gonçalves E. Interferometria holografica aplicada aos meios e objetos transparentes [Internet]. C e i: Controle e Instrumentacao. 1989 ;18( ju 1989): 38-40.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/1318f57a-6e5c-4f12-92f4-1009e58ff304/Gon%C3%A7alves-1989-Interferometria%20ok.pdf
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Forneris Junior R, Forneris RIMG, Gonçalves E. Interferometria holografica aplicada aos meios e objetos transparentes [Internet]. C e i: Controle e Instrumentacao. 1989 ;18( ju 1989): 38-40.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/1318f57a-6e5c-4f12-92f4-1009e58ff304/Gon%C3%A7alves-1989-Interferometria%20ok.pdf
Dissertação (Mestrado)
Análise de deslocamentos e deformações em elementos estruturais por interferometria holográfica. (1987)
Forneris Junior, Ricardo; Gonçalves, Edison (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: ELEMENTOS ESTRUTURAIS, INTERFEROMETRIA, DEFORMAÇÃO ESTRUTURAL
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNERIS JUNIOR, Ricardo. Análise de deslocamentos e deformações em elementos estruturais por interferometria holográfica. 1987. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1987. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3135/tde-18042024-111808/pt-br.php. Acesso em: 30 set. 2024.
APA
Forneris Junior, R. (1987). Análise de deslocamentos e deformações em elementos estruturais por interferometria holográfica. (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3135/tde-18042024-111808/pt-br.php
NLM
Forneris Junior R. Análise de deslocamentos e deformações em elementos estruturais por interferometria holográfica. [Internet]. 1987 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3135/tde-18042024-111808/pt-br.php
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Forneris Junior R. Análise de deslocamentos e deformações em elementos estruturais por interferometria holográfica. [Internet]. 1987 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3135/tde-18042024-111808/pt-br.php
Trabalho de evento-resumo periodico
Avaliação por interferometria holográfica dos deslocamentos de um objeto sujeito a um carregamento estático (1986)
Forneris Junior, Ricardo; Forneris, Roberto Ignazio Maria Guglielmo; Gonçalves, Edison
Source: Ciência e Cultura. Conference titles: Reunião Anual da SBPC. Unidades: IF, EP
Subjects: CARREGAMENTO NAS ESTRUTURAS, INTERFEROMETRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNERIS JUNIOR, Ricardo e FORNERIS, Roberto Ignazio Maria Guglielmo e GONÇALVES, Edison. Avaliação por interferometria holográfica dos deslocamentos de um objeto sujeito a um carregamento estático. Ciência e Cultura. [S.l.]: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 30 set. 2024. , 1986
APA
Forneris Junior, R., Forneris, R. I. M. G., & Gonçalves, E. (1986). Avaliação por interferometria holográfica dos deslocamentos de um objeto sujeito a um carregamento estático. Ciência e Cultura. Instituto de Física, Universidade de São Paulo.
NLM
Forneris Junior R, Forneris RIMG, Gonçalves E. Avaliação por interferometria holográfica dos deslocamentos de um objeto sujeito a um carregamento estático. Ciência e Cultura. 1986 ; 38( 7 supl.): 298.[citado 2024 set. 30 ]
Vancouver
Forneris Junior R, Forneris RIMG, Gonçalves E. Avaliação por interferometria holográfica dos deslocamentos de um objeto sujeito a um carregamento estático. Ciência e Cultura. 1986 ; 38( 7 supl.): 298.[citado 2024 set. 30 ]
Trabalho de evento-resumo periodico
Análise das vibrações de uma barra engastada por interferometria holográfica (1986)
Forneris Junior, Ricardo; Gonçalves, Edison; Forneris, Roberto Ignazio Maria Guglielmo
Source: Ciência e Cultura. Conference titles: Reunião Anual da SBPC. Unidades: IF, EP
Subjects: INTERFEROMETRIA, BARRAS, VIBRAÇÕES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNERIS JUNIOR, Ricardo e GONÇALVES, Edison e FORNERIS, Roberto Ignazio Maria Guglielmo. Análise das vibrações de uma barra engastada por interferometria holográfica. Ciência e Cultura. [S.l.]: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 30 set. 2024. , 1986
APA
Forneris Junior, R., Gonçalves, E., & Forneris, R. I. M. G. (1986). Análise das vibrações de uma barra engastada por interferometria holográfica. Ciência e Cultura. Instituto de Física, Universidade de São Paulo.
NLM
Forneris Junior R, Gonçalves E, Forneris RIMG. Análise das vibrações de uma barra engastada por interferometria holográfica. Ciência e Cultura. 1986 ; 38( 7 supl.): 298.[citado 2024 set. 30 ]
Vancouver
Forneris Junior R, Gonçalves E, Forneris RIMG. Análise das vibrações de uma barra engastada por interferometria holográfica. Ciência e Cultura. 1986 ; 38( 7 supl.): 298.[citado 2024 set. 30 ]

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