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Trabalho de evento-resumo
FTIR spectroscopy and Optical microscopy of pottery shards from Conjunto Villas and São João sites, Middle Solimões region (AM) (2018)
Oliveira, Leo sousa Santiago de; Abreu, Carolina Melo de; Lopes, Rafael de Almeida; Almeida, Fernando Ozorio de; Sussuchi, Eliana Midori; Rizzutto, Marcia de Almeida; Souza, Divanizia Nascimento
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Outono. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA, FÍSICA NUCLEAR, ARQUEOMETRIA, FEIXES
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ABNT
OLIVEIRA, Leo sousa Santiago de et al. FTIR spectroscopy and Optical microscopy of pottery shards from Conjunto Villas and São João sites, Middle Solimões region (AM). 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0795-1.pdf. Acesso em: 14 out. 2024.
APA
Oliveira, L. sousa S. de, Abreu, C. M. de, Lopes, R. de A., Almeida, F. O. de, Sussuchi, E. M., Rizzutto, M. de A., & Souza, D. N. (2018). FTIR spectroscopy and Optical microscopy of pottery shards from Conjunto Villas and São João sites, Middle Solimões region (AM). In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0795-1.pdf
NLM
Oliveira L sousa S de, Abreu CM de, Lopes R de A, Almeida FO de, Sussuchi EM, Rizzutto M de A, Souza DN. FTIR spectroscopy and Optical microscopy of pottery shards from Conjunto Villas and São João sites, Middle Solimões region (AM) [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0795-1.pdf
Vancouver
Oliveira L sousa S de, Abreu CM de, Lopes R de A, Almeida FO de, Sussuchi EM, Rizzutto M de A, Souza DN. FTIR spectroscopy and Optical microscopy of pottery shards from Conjunto Villas and São João sites, Middle Solimões region (AM) [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0795-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Determinação da dose dos fótons contaminantes usando o método de recozimento simulado generalizado (2017)
Visbal, Jorge Homero Wilches; Costa, Alessandro Martins da
Source: Resumos. Conference titles: Congresso Brasileiro de Física Médica. Unidade: FFCLRP
Subjects: FÍSICA MÉDICA, ELÉTRONS, FEIXES
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ABNT
VISBAL, Jorge Homero Wilches e COSTA, Alessandro Martins da. Determinação da dose dos fótons contaminantes usando o método de recozimento simulado generalizado. 2017, Anais.. Ribeirão Preto: ABFM, 2017. Disponível em: http://sisconev.com.br/Uploads/CBFM2017/Trab015500337720170510_000000.pdf. Acesso em: 14 out. 2024.
APA
Visbal, J. H. W., & Costa, A. M. da. (2017). Determinação da dose dos fótons contaminantes usando o método de recozimento simulado generalizado. In Resumos. Ribeirão Preto: ABFM. Recuperado de http://sisconev.com.br/Uploads/CBFM2017/Trab015500337720170510_000000.pdf
NLM
Visbal JHW, Costa AM da. Determinação da dose dos fótons contaminantes usando o método de recozimento simulado generalizado [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://sisconev.com.br/Uploads/CBFM2017/Trab015500337720170510_000000.pdf
Vancouver
Visbal JHW, Costa AM da. Determinação da dose dos fótons contaminantes usando o método de recozimento simulado generalizado [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://sisconev.com.br/Uploads/CBFM2017/Trab015500337720170510_000000.pdf
Trabalho de evento-resumo
Semiconductor nanostructures grown by molecular beam epitaxy (2006)
Pusep, Yuri A ; Guimarães, Francisco Eduardo Gontijo ; Arakaki, Haroldo; Souza, C. A. de
Source: Resumos. Conference titles: Feira e Congresso Internacional de Nanotecnologia - Nanotec. Unidade: IFSC
Subjects: FEIXES, FOTOLUMINESCÊNCIA
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ABNT
PUSEP, Yuri A et al. Semiconductor nanostructures grown by molecular beam epitaxy. 2006, Anais.. São Paulo: USP, 2006. . Acesso em: 14 out. 2024.
APA
Pusep, Y. A., Guimarães, F. E. G., Arakaki, H., & Souza, C. A. de. (2006). Semiconductor nanostructures grown by molecular beam epitaxy. In Resumos. São Paulo: USP.
NLM
Pusep YA, Guimarães FEG, Arakaki H, Souza CA de. Semiconductor nanostructures grown by molecular beam epitaxy. Resumos. 2006 ;[citado 2024 out. 14 ]
Vancouver
Pusep YA, Guimarães FEG, Arakaki H, Souza CA de. Semiconductor nanostructures grown by molecular beam epitaxy. Resumos. 2006 ;[citado 2024 out. 14 ]
Trabalho de evento-resumo
Efeitos topográficos em espectros RBS (2005)
Silva, Alessandro Alves da; Tabacniks, Manfredo Harri ; Cescato, Lucila; Carvalho, Edson Jose; Almeida, Fábio Henrique de
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, FEIXES
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ABNT
SILVA, Alessandro Alves da et al. Efeitos topográficos em espectros RBS. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1407-1.pdf. Acesso em: 14 out. 2024.
APA
Silva, A. A. da, Tabacniks, M. H., Cescato, L., Carvalho, E. J., & Almeida, F. H. de. (2005). Efeitos topográficos em espectros RBS. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1407-1.pdf
NLM
Silva AA da, Tabacniks MH, Cescato L, Carvalho EJ, Almeida FH de. Efeitos topográficos em espectros RBS [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1407-1.pdf
Vancouver
Silva AA da, Tabacniks MH, Cescato L, Carvalho EJ, Almeida FH de. Efeitos topográficos em espectros RBS [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1407-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons (2005)
Lopes, K. C.; Matsuoka, M; Sucasaire, W; Mittani, J C R; Avanci, L H; Chubaci, J F D; Salvadori, M C B S; Leite, J. R.; Sant'Ana, A. C. de; Temperini, Márcia Laudelina Arruda ; Freitas, J. A.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, IQ
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, SEMICONDUTORES, FEIXES
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ABNT
LOPES, K. C. et al. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf. Acesso em: 14 out. 2024.
APA
Lopes, K. C., Matsuoka, M., Sucasaire, W., Mittani, J. C. R., Avanci, L. H., Chubaci, J. F. D., et al. (2005). Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf
NLM
Lopes KC, Matsuoka M, Sucasaire W, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Salvadori MCBS, Leite JR, Sant'Ana AC de, Temperini MLA, Freitas JA. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf
Vancouver
Lopes KC, Matsuoka M, Sucasaire W, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Salvadori MCBS, Leite JR, Sant'Ana AC de, Temperini MLA, Freitas JA. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons (2005)
Sucasaire, W; Matsuoka, M; Lopes, K C; Mittani, J C R; Avanci, L H; Chubaci, J F D; Added, Nemitala; Trava, V; Corat E J
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, FEIXES, ÍONS
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ABNT
SUCASAIRE, W et al. Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf. Acesso em: 14 out. 2024.
APA
Sucasaire, W., Matsuoka, M., Lopes, K. C., Mittani, J. C. R., Avanci, L. H., Chubaci, J. F. D., et al. (2005). Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf
NLM
Sucasaire W, Matsuoka M, Lopes KC, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Added N, Trava V, Corat E J. Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf
Vancouver
Sucasaire W, Matsuoka M, Lopes KC, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Added N, Trava V, Corat E J. Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 14 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf

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