Optical and electrical characterization of redopping layer-by-layer POMA/PPV films (2002)
Source: Programa e resumos. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais. Unidade: IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
MELO, R. M. de et al. Optical and electrical characterization of redopping layer-by-layer POMA/PPV films. 2002, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2002. . Acesso em: 27 set. 2024.APA
Melo, R. M. de, Faria, A. D., Marletta, A., Dantas, N. O., Piovesan, E., Souza, N. C. de, et al. (2002). Optical and electrical characterization of redopping layer-by-layer POMA/PPV films. In Programa e resumos. Rio de Janeiro: SBPMat.NLM
Melo RM de, Faria AD, Marletta A, Dantas NO, Piovesan E, Souza NC de, Olivati CA, Balogh DT, Oliveira Junior ON de, Faria RM. Optical and electrical characterization of redopping layer-by-layer POMA/PPV films. Programa e resumos. 2002 ;[citado 2024 set. 27 ]Vancouver
Melo RM de, Faria AD, Marletta A, Dantas NO, Piovesan E, Souza NC de, Olivati CA, Balogh DT, Oliveira Junior ON de, Faria RM. Optical and electrical characterization of redopping layer-by-layer POMA/PPV films. Programa e resumos. 2002 ;[citado 2024 set. 27 ]