Subjects: FILMES FINOS, FÍSICA DE PLASMAS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, MICROANÁLISE, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
ABNT
OBLITAS, Raissa Lima de. Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo. 2016. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2016. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24102016-115435/. Acesso em: 11 set. 2024.APA
Oblitas, R. L. de. (2016). Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24102016-115435/NLM
Oblitas RL de. Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo [Internet]. 2016 ;[citado 2024 set. 11 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24102016-115435/Vancouver
Oblitas RL de. Avaliação da composição elementar de filmes finos de ligas metálicas por arco catódico filtrado em vácuo utilizando RBS e EDS quantitativo [Internet]. 2016 ;[citado 2024 set. 11 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24102016-115435/