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  • Source: Resumos. Conference titles: INCT-FNA Symposium- Institute of Physics. Unidade: IF

    Assunto: RAIOS X

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    • ABNT

      RODRIGUES, Cleber Lima et al. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA. 2022, Anais.. São Paulo: Universidade Federal Fluminese, 2022. Disponível em: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Rodrigues, C. L., Silva, T. F. da, Saramela, T. B., & Tabacniks, M. H. (2022). PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA. In Resumos. São Paulo: Universidade Federal Fluminese. Recuperado de https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
    • NLM

      Rodrigues CL, Silva TF da, Saramela TB, Tabacniks MH. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA [Internet]. Resumos. 2022 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
    • Vancouver

      Rodrigues CL, Silva TF da, Saramela TB, Tabacniks MH. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA [Internet]. Resumos. 2022 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
  • Unidade: IF

    Subjects: BIG DATA, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL

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    • ABNT

      SILVA, Tiago Fiorini da et al. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 21 jul. 2024. , 2022
    • APA

      Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Saramela, T. B., & Tabacniks, M. H. (2022). Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
    • NLM

      Silva TF da, Rodrigues CL, Saramela TB, Tabacniks MH. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation [Internet]. 2022 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
    • Vancouver

      Silva TF da, Rodrigues CL, Saramela TB, Tabacniks MH. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation [Internet]. 2022 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
  • Unidade: IF

    Subjects: ESPECTROSCOPIA, REDES NEURAIS

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    • ABNT

      GUIMARÃES, Renato dos Santos et al. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 21 jul. 2024. , 2022
    • APA

      Guimarães, R. dos S., Bach, S., Burwitz, V. V., Hiret, P., Mayer, M., Silva, T. F. da, et al. (2022). Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
    • NLM

      Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
    • Vancouver

      Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
  • Unidade: IF

    Subjects: ÍONS, ESPECTROMETRIA

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    • ABNT

      SILVA, T. F. et al. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf. Acesso em: 21 jul. 2024. , 2021
    • APA

      Silva, T. F., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., & Tabacniks, M. H. (2021). Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
    • NLM

      Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
    • Vancouver

      Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
  • Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA MATEMÁTICA, PROCESSAMENTO DE SINAIS ACÚSTICOS, INFERÊNCIA BAYESIANA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      SILVA, Eduardo Rodrigues da. SUVREL aplicado em comparação de voz para fins forenses no arcabouço bayesiano e aplicabilidade do Teorema de Bayes no ordenamento jurídico brasileiro. 2021. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2021. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13072021-200952/. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Silva, E. R. da. (2021). SUVREL aplicado em comparação de voz para fins forenses no arcabouço bayesiano e aplicabilidade do Teorema de Bayes no ordenamento jurídico brasileiro (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13072021-200952/
    • NLM

      Silva ER da. SUVREL aplicado em comparação de voz para fins forenses no arcabouço bayesiano e aplicabilidade do Teorema de Bayes no ordenamento jurídico brasileiro [Internet]. 2021 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13072021-200952/
    • Vancouver

      Silva ER da. SUVREL aplicado em comparação de voz para fins forenses no arcabouço bayesiano e aplicabilidade do Teorema de Bayes no ordenamento jurídico brasileiro [Internet]. 2021 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13072021-200952/
  • Unidade: IF

    Subjects: ÍONS, SIMULAÇÃO

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    • ABNT

      SILVA, T. F. et al. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf. Acesso em: 21 jul. 2024. , 2021
    • APA

      Silva, T. F., Höschen, T., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
    • NLM

      Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
    • Vancouver

      Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
  • Source: Journal of Materials Science-Materials in Eletronics. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ÍONS ELETRÔNICOS, NANOELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      AMORIN, Luís Henrique et al. Influence of the hydrogen content on the optical properties of TiOx thin films. Journal of Materials Science-Materials in Eletronics, v. 31, n. 2, p. 1672-1680, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10854-019-02685-z. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Amorin, L. H., Martins, L. da S., Urbano, A., Santos, C. S. dos, Matos, R., Moro, M. V., et al. (2020). Influence of the hydrogen content on the optical properties of TiOx thin films. Journal of Materials Science-Materials in Eletronics, 31( 2), 1672-1680. doi:10.1007/s10854-019-02685-z
    • NLM

      Amorin LH, Martins L da S, Urbano A, Santos CS dos, Matos R, Moro MV, Silva TF da, Rodrigues C, Tabacniks MH. Influence of the hydrogen content on the optical properties of TiOx thin films [Internet]. Journal of Materials Science-Materials in Eletronics. 2020 ; 31( 2): 1672-1680.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10854-019-02685-z
    • Vancouver

      Amorin LH, Martins L da S, Urbano A, Santos CS dos, Matos R, Moro MV, Silva TF da, Rodrigues C, Tabacniks MH. Influence of the hydrogen content on the optical properties of TiOx thin films [Internet]. Journal of Materials Science-Materials in Eletronics. 2020 ; 31( 2): 1672-1680.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10854-019-02685-z
  • Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF

    Subjects: ÍONS, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      SILVA, Tiago Fiorini da et al. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 478, p. 111-115, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., Pereira, H. D. C., Saramela, T. B., & Guimarães, R. O. (2020). Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 478, 111-115. doi:10.1016/j.nimb.2020.05.027
    • NLM

      Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Pereira HDC, Saramela TB, Guimarães RO. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020 ; 478 111-115.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027
    • Vancouver

      Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Pereira HDC, Saramela TB, Guimarães RO. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020 ; 478 111-115.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027
  • Source: AIP Review of Scientific Instruments. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS, DISPOSITIVOS ÓPTICOS, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA), ACELERADOR DE PARTÍCULAS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      AGUIAR, Vitor^Ângelo Paulino de et al. SAFIIRA: A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil. AIP Review of Scientific Instruments, v. 91, n. 5, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.5138644. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Aguiar, V. ^Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Alberton, S. G. P. N., Leite, A. R., et al. (2020). SAFIIRA: A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil. AIP Review of Scientific Instruments, 91( 5). doi:10.1063/1.5138644
    • NLM

      Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Leite AR, Aguirre FR, Ribas RV, Perego CC, Fagundes LM, Terassi JC, Brage JAP, Simões RF, Morais OB, Almeida EA, Joaquim PM, Souza MS, Cecotte AFM, Martins R, Duarte JG, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Leistenschneider E, Oliveira RAN, Servelo WA, Silva MT, Sarmento VE, Carreira CA, Abreu JC, Silva SC, Santos HC, Rodrigues CL, Assis RF, Silva TF, Tabacniks MH, Joaquim AS, Minas JHP, Kashinskiy D, Guazzelli MA, Seixas Jr. LE, Finco S, Benevenutti F. SAFIIRA: A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil [Internet]. AIP Review of Scientific Instruments. 2020 ; 91( 5):[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.5138644
    • Vancouver

      Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Leite AR, Aguirre FR, Ribas RV, Perego CC, Fagundes LM, Terassi JC, Brage JAP, Simões RF, Morais OB, Almeida EA, Joaquim PM, Souza MS, Cecotte AFM, Martins R, Duarte JG, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Leistenschneider E, Oliveira RAN, Servelo WA, Silva MT, Sarmento VE, Carreira CA, Abreu JC, Silva SC, Santos HC, Rodrigues CL, Assis RF, Silva TF, Tabacniks MH, Joaquim AS, Minas JHP, Kashinskiy D, Guazzelli MA, Seixas Jr. LE, Finco S, Benevenutti F. SAFIIRA: A heavy-ion multi-purpose irradiation facility in Brazil [Internet]. AIP Review of Scientific Instruments. 2020 ; 91( 5):[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.5138644
  • Unidade: IF

    Subjects: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS ELETRÔNICOS

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    • ABNT

      TABACNIKS, Manfredo Harri. The laboratory of material analysis with ion beams LAMFI - USP. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1902.08309. Acesso em: 21 jul. 2024. , 2019
    • APA

      Tabacniks, M. H. (2019). The laboratory of material analysis with ion beams LAMFI - USP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1902.08309
    • NLM

      Tabacniks MH. The laboratory of material analysis with ion beams LAMFI - USP [Internet]. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1902.08309
    • Vancouver

      Tabacniks MH. The laboratory of material analysis with ion beams LAMFI - USP [Internet]. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1902.08309
  • Source: Jornal da USP. Unidade: IF

    Subjects: EXPOSIÇÃO FOTOGRÁFICA, FÍSICA, FÍSICA ATMOSFÉRICA, LHC

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      TABACNIKS, Manfredo Harri. Contra o obscurantismo, exposição ressalta elo entre ciência e desenvolvimento. Tradução . Jornal da USP, São Paulo, 2019. Disponível em: https://jornal.usp.br/ciencias/contra-o-obscurantismo-exposicao-ressalta-elo-entre-ciencia-e-desenvolvimento/. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Tabacniks, M. H. (2019). Contra o obscurantismo, exposição ressalta elo entre ciência e desenvolvimento. Jornal da USP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://jornal.usp.br/ciencias/contra-o-obscurantismo-exposicao-ressalta-elo-entre-ciencia-e-desenvolvimento/
    • NLM

      Tabacniks MH. Contra o obscurantismo, exposição ressalta elo entre ciência e desenvolvimento [Internet]. Jornal da USP. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://jornal.usp.br/ciencias/contra-o-obscurantismo-exposicao-ressalta-elo-entre-ciencia-e-desenvolvimento/
    • Vancouver

      Tabacniks MH. Contra o obscurantismo, exposição ressalta elo entre ciência e desenvolvimento [Internet]. Jornal da USP. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://jornal.usp.br/ciencias/contra-o-obscurantismo-exposicao-ressalta-elo-entre-ciencia-e-desenvolvimento/
  • Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF

    Subjects: ÍONS, FLUORESCÊNCIA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      TABACNIKS, Manfredo Harri e SILVA, Tiago Fiorini da e RODRIGUES, Cleber Lima. News from the LAMFI. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Tabacniks, M. H., Silva, T. F. da, & Rodrigues, C. L. (2019). News from the LAMFI. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
    • NLM

      Tabacniks MH, Silva TF da, Rodrigues CL. News from the LAMFI. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ]
    • Vancouver

      Tabacniks MH, Silva TF da, Rodrigues CL. News from the LAMFI. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ]
  • Source: Journal of Luminescence. Unidade: IF

    Assunto: FOTOLUMINESCÊNCIA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      LORY CANTELLI, et al. Unveiling the origin of photoluminescence in nanoporous anodic alumina (NAA) obtained by constant current regime. Journal of Luminescence, v. 207, p. 63-69, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2018.10.015. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Lory Cantelli,, Santos, J. S., Silva, T. F. da, Tabacniks, M. H., Delgado-Silva, A. de O., & Trivinho-Strixino, F. (2019). Unveiling the origin of photoluminescence in nanoporous anodic alumina (NAA) obtained by constant current regime. Journal of Luminescence, 207, 63-69. doi:10.1016/j.jlumin.2018.10.015
    • NLM

      Lory Cantelli, Santos JS, Silva TF da, Tabacniks MH, Delgado-Silva A de O, Trivinho-Strixino F. Unveiling the origin of photoluminescence in nanoporous anodic alumina (NAA) obtained by constant current regime [Internet]. Journal of Luminescence. 2019 ;207 63-69.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2018.10.015
    • Vancouver

      Lory Cantelli, Santos JS, Silva TF da, Tabacniks MH, Delgado-Silva A de O, Trivinho-Strixino F. Unveiling the origin of photoluminescence in nanoporous anodic alumina (NAA) obtained by constant current regime [Internet]. Journal of Luminescence. 2019 ;207 63-69.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2018.10.015
  • Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IF

    Subjects: ÍONS, RAIOS X, FLUORESCÊNCIA, ENERGIA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SANTOS, Hellen Cristine et al. Characterization of a system that combines energy dispersive X-ray diffraction with X-ray fluorescence and its potential applications in archeometry. Journal of Applied Physics, v. 126, n. 4, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.5108746. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Santos, H. C., Silva, T. F. da, Leite, A. R., Assis, R. F. de, Campos, P. H. O. V. de, Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2019). Characterization of a system that combines energy dispersive X-ray diffraction with X-ray fluorescence and its potential applications in archeometry. Journal of Applied Physics, 126( 4). doi:10.1063/1.5108746
    • NLM

      Santos HC, Silva TF da, Leite AR, Assis RF de, Campos PHOV de, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Characterization of a system that combines energy dispersive X-ray diffraction with X-ray fluorescence and its potential applications in archeometry [Internet]. Journal of Applied Physics. 2019 ; 126( 4):[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.5108746
    • Vancouver

      Santos HC, Silva TF da, Leite AR, Assis RF de, Campos PHOV de, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Characterization of a system that combines energy dispersive X-ray diffraction with X-ray fluorescence and its potential applications in archeometry [Internet]. Journal of Applied Physics. 2019 ; 126( 4):[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.5108746
  • Unidade: IF

    Subjects: ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, FÍSICA ATÔMICA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FÍSICA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      RESTREPO ARTETA, Juan Manuel. Avaliação crítica da quantificação elementar (incluindo hidrogênio, carbono e oxigênio) por emissão de raios-X induzidos por prótons, PIXE, e por fluorescência de raios-X, XRF. 2019. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2019. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24052021-152915/. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Restrepo Arteta, J. M. (2019). Avaliação crítica da quantificação elementar (incluindo hidrogênio, carbono e oxigênio) por emissão de raios-X induzidos por prótons, PIXE, e por fluorescência de raios-X, XRF (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24052021-152915/
    • NLM

      Restrepo Arteta JM. Avaliação crítica da quantificação elementar (incluindo hidrogênio, carbono e oxigênio) por emissão de raios-X induzidos por prótons, PIXE, e por fluorescência de raios-X, XRF [Internet]. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24052021-152915/
    • Vancouver

      Restrepo Arteta JM. Avaliação crítica da quantificação elementar (incluindo hidrogênio, carbono e oxigênio) por emissão de raios-X induzidos por prótons, PIXE, e por fluorescência de raios-X, XRF [Internet]. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-24052021-152915/
  • Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF

    Assunto: ARQUEOMETRIA

    How to cite
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    • ABNT

      SANTOS, Hellen Cristine dos et al. Characterization of a system that combines EDXRD with EDXRF and its potential applications in archaeometry. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Santos, H. C. dos, Silva, T. F. da, Leite, A. R., Assis, R. F. de, Leite, A. R. A., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2019). Characterization of a system that combines EDXRD with EDXRF and its potential applications in archaeometry. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
    • NLM

      Santos HC dos, Silva TF da, Leite AR, Assis RF de, Leite ARA, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Characterization of a system that combines EDXRD with EDXRF and its potential applications in archaeometry. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ]
    • Vancouver

      Santos HC dos, Silva TF da, Leite AR, Assis RF de, Leite ARA, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Characterization of a system that combines EDXRD with EDXRF and its potential applications in archaeometry. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 jul. 21 ]
  • Source: Physical Review A. Unidade: IF

    Assunto: ELÉTRONS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SANTOS, O C B et al. Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV. Physical Review A, v. 100, p. 022703(9), 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.022703. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Santos, O. C. B., Vanin, V. R., Maidana, N. L., Martins, M. N., Tabacniks, M. H., Rodrigues, C. L., et al. (2019). Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV. Physical Review A, 100, 022703(9). doi:10.1103/PhysRevA.100.022703
    • NLM

      Santos OCB, Vanin VR, Maidana NL, Martins MN, Tabacniks MH, Rodrigues CL, Silva TF, Santos AD dos. Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV [Internet]. Physical Review A. 2019 ;100 022703(9).[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.022703
    • Vancouver

      Santos OCB, Vanin VR, Maidana NL, Martins MN, Tabacniks MH, Rodrigues CL, Silva TF, Santos AD dos. Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV [Internet]. Physical Review A. 2019 ;100 022703(9).[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.022703
  • Source: Applied Radiation and Isotopes. Unidade: IF

    Assunto: DETETORES

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CAMPOS, P. H. O. V. et al. A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses. Applied Radiation and Isotopes, v. 152, p. 78–85, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.06.018. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Campos, P. H. O. V., Appoloni, C. R., Rizzutto, M. de A., Leite, A. R., Assis, R. F., Santos, H. C., et al. (2019). A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses. Applied Radiation and Isotopes, 152, 78–85. doi:10.1016/j.apradiso.2019.06.018
    • NLM

      Campos PHOV, Appoloni CR, Rizzutto M de A, Leite AR, Assis RF, Santos HC, Silva TF, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N. A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses [Internet]. Applied Radiation and Isotopes. 2019 ; 152 78–85.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.06.018
    • Vancouver

      Campos PHOV, Appoloni CR, Rizzutto M de A, Leite AR, Assis RF, Santos HC, Silva TF, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N. A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses [Internet]. Applied Radiation and Isotopes. 2019 ; 152 78–85.[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.06.018
  • Unidade: IF

    Subjects: RAIOS X, ESPECTROMETRIA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SILVA, Tiago Fiorini da et al. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1803.01946. Acesso em: 21 jul. 2024. , 2018
    • APA

      Silva, T. F. da, Moro, M. V., Trindade, G. F., Aguirre, F. R., Mayer, M., Added, N., et al. (2018). MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1803.01946
    • NLM

      Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
    • Vancouver

      Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
  • Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, ESPECTROSCOPIA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      TABACNIKS, Manfredo Harri. Trends and applications of Ion Beam Analysis. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0092-1.pdf. Acesso em: 21 jul. 2024.
    • APA

      Tabacniks, M. H. (2018). Trends and applications of Ion Beam Analysis. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0092-1.pdf
    • NLM

      Tabacniks MH. Trends and applications of Ion Beam Analysis [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0092-1.pdf
    • Vancouver

      Tabacniks MH. Trends and applications of Ion Beam Analysis [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 jul. 21 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0092-1.pdf

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