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Artigo de periodico
Molds and resists studies for nanoimprint lithography of electrodes in low-voltage polymer thin-film transistors (2014)
Cavallari, Marco Roberto ; Zanchin, Vinicius Ramos; Pojar, Mariana ; Seabra, Antonio Carlos ; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Andrade, Adnei Melges de
Fonte: Journal of Electronic Materials. Unidades: EP, IFSC, IEE
Assuntos: FILMES FINOS, TRANSISTORES, NANOTECNOLOGIA
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ABNT
CAVALLARI, Marco Roberto et al. Molds and resists studies for nanoimprint lithography of electrodes in low-voltage polymer thin-film transistors. Journal of Electronic Materials, v. 43, n. 5, p. 1317-1325, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s11664-014-3071-z. Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Cavallari, M. R., Zanchin, V. R., Pojar, M., Seabra, A. C., Silva, M. de A. P. da, Fonseca, F. J., & Andrade, A. M. de. (2014). Molds and resists studies for nanoimprint lithography of electrodes in low-voltage polymer thin-film transistors. Journal of Electronic Materials, 43( 5), 1317-1325. doi:10.1007/s11664-014-3071-z
NLM
Cavallari MR, Zanchin VR, Pojar M, Seabra AC, Silva M de AP da, Fonseca FJ, Andrade AM de. Molds and resists studies for nanoimprint lithography of electrodes in low-voltage polymer thin-film transistors [Internet]. Journal of Electronic Materials. 2014 ; 43( 5): 1317-1325.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s11664-014-3071-z
Vancouver
Cavallari MR, Zanchin VR, Pojar M, Seabra AC, Silva M de AP da, Fonseca FJ, Andrade AM de. Molds and resists studies for nanoimprint lithography of electrodes in low-voltage polymer thin-film transistors [Internet]. Journal of Electronic Materials. 2014 ; 43( 5): 1317-1325.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s11664-014-3071-z
Trabalho de evento-resumo
Nanoimprint of AZ1518 photoresist and microcontact printing of PEDOT electrodes for low cost electronics (2011)
Cavallari, Marco Roberto ; Zanchin, Vinicius Ramos; Artese, Leandro Augusto Silveira; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Faria, Roberto Mendonça ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Andrade, Adnei Melges de
Fonte: Program Book. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IFSC, EP, IEE
Assuntos: NANOTECNOLOGIA, IMPRESSÃO (DESENVOLVIMENTO), MICROSCOPIA
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ABNT
CAVALLARI, Marco Roberto et al. Nanoimprint of AZ1518 photoresist and microcontact printing of PEDOT electrodes for low cost electronics. 2011, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2011. . Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Cavallari, M. R., Zanchin, V. R., Artese, L. A. S., Silva, M. de A. P. da, Faria, R. M., Fonseca, F. J., & Andrade, A. M. de. (2011). Nanoimprint of AZ1518 photoresist and microcontact printing of PEDOT electrodes for low cost electronics. In Program Book. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.
NLM
Cavallari MR, Zanchin VR, Artese LAS, Silva M de AP da, Faria RM, Fonseca FJ, Andrade AM de. Nanoimprint of AZ1518 photoresist and microcontact printing of PEDOT electrodes for low cost electronics. Program Book. 2011 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Vancouver
Cavallari MR, Zanchin VR, Artese LAS, Silva M de AP da, Faria RM, Fonseca FJ, Andrade AM de. Nanoimprint of AZ1518 photoresist and microcontact printing of PEDOT electrodes for low cost electronics. Program Book. 2011 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Trabalho de evento
Contribution to the improvement of astm - d2303 polymer covered cable testing (1996)
Dirani, Ely Antonio Tadeu ; Pinheiro, W; Nachvalger, E E; Oliveira, J. J. S.; Castro, Adrian Ferreira; Andrade, Adnei Melges de ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Faria, Roberto Mendonça ; Oliveira, R. B.; Caron, L. E.; Ruvolo Filho, Adhemar Colla
Fonte: Annual Report. Nome do evento: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena. Unidades: EP, IEE, IFSC
Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
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ABNT
DIRANI, Ely Antonio Tadeu et al. Contribution to the improvement of astm - d2303 polymer covered cable testing. 1996, Anais.. Piscataway: Ieee, 1996. . Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Dirani, E. A. T., Pinheiro, W., Nachvalger, E. E., Oliveira, J. J. S., Castro, A. F., Andrade, A. M. de, et al. (1996). Contribution to the improvement of astm - d2303 polymer covered cable testing. In Annual Report. Piscataway: Ieee.
NLM
Dirani EAT, Pinheiro W, Nachvalger EE, Oliveira JJS, Castro AF, Andrade AM de, Fonseca FJ, Faria RM, Oliveira RB, Caron LE, Ruvolo Filho AC. Contribution to the improvement of astm - d2303 polymer covered cable testing. Annual Report. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Vancouver
Dirani EAT, Pinheiro W, Nachvalger EE, Oliveira JJS, Castro AF, Andrade AM de, Fonseca FJ, Faria RM, Oliveira RB, Caron LE, Ruvolo Filho AC. Contribution to the improvement of astm - d2303 polymer covered cable testing. Annual Report. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Trabalho de evento
Study of polimeric material characteristics and covered conductors used in Brazil (1996)
Pinheiro, W.; Nachvalger, E. E.; Oliveira, J. J. S.; Caron, L. E.; Ruvolo Filho, Adhemar Colla; Castro, Adrian Ferreira; Faria, Roberto Mendonça ; Oliveira, R. B. L.; Dirani, Ely Antonio Tadeu ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Andrade, Adnei Melges de
Fonte: Annual report. Nome do evento: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena. Unidades: IEE, IFSC, EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
PINHEIRO, W. et al. Study of polimeric material characteristics and covered conductors used in Brazil. 1996, Anais.. Piscataway: IEEE, 1996. . Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Pinheiro, W., Nachvalger, E. E., Oliveira, J. J. S., Caron, L. E., Ruvolo Filho, A. C., Castro, A. F., et al. (1996). Study of polimeric material characteristics and covered conductors used in Brazil. In Annual report. Piscataway: IEEE.
NLM
Pinheiro W, Nachvalger EE, Oliveira JJS, Caron LE, Ruvolo Filho AC, Castro AF, Faria RM, Oliveira RBL, Dirani EAT, Fonseca FJ, Andrade AM de. Study of polimeric material characteristics and covered conductors used in Brazil. Annual report. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Vancouver
Pinheiro W, Nachvalger EE, Oliveira JJS, Caron LE, Ruvolo Filho AC, Castro AF, Faria RM, Oliveira RBL, Dirani EAT, Fonseca FJ, Andrade AM de. Study of polimeric material characteristics and covered conductors used in Brazil. Annual report. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Monografia/livro-ed/org
Simposio de iniciacao cientifica da universidade de sao paulo, 4: engenharias e exatas (1996)
Altafim, Ruy Alberto Corrêa (Organizador); Martucci Júnior, Moacyr (Organizador) ; Franco, Neide Maria Bertoldi (Organizador); Camargo, A R (Organizador); Slaets, Annie France Frère (Organizador); Gesualdo, E (Organizador); Fagá, Murilo Tadeu Werneck (Organizador) ; Giacometti, José Alberto (Organizador); Motheo, Artur de Jesus (Organizador) ; Giorgetti, Marcius Fantozzi (Organizador)
Unidades: EESC, ICMC, IFSC, EP, IQSC, IEE
Assunto: CIÊNCIAS EXATAS
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ABNT
Simposio de iniciacao cientifica da universidade de sao paulo, 4: engenharias e exatas. . Sao Paulo: Universidade de Sao Paulo. . Acesso em: 05 nov. 2024. , 1996
APA
Simposio de iniciacao cientifica da universidade de sao paulo, 4: engenharias e exatas. (1996). Simposio de iniciacao cientifica da universidade de sao paulo, 4: engenharias e exatas. Sao Paulo: Universidade de Sao Paulo.
NLM
Simposio de iniciacao cientifica da universidade de sao paulo, 4: engenharias e exatas. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Vancouver
Simposio de iniciacao cientifica da universidade de sao paulo, 4: engenharias e exatas. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Trabalho de evento
The aerial bundled cables (ABC) and the characteristics of the semiconductive shield (1996)
Oliveira, J. J. S.; Pinheiro, W.; Faria, Roberto Mendonça ; Ruvolo Filho, Adhemar Colla; Cardoso, José Roberto ; Nachvalger, E. E.; Dirani, Ely Antonio Tadeu ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Castro, Adrian Ferreira; Andrade, Adnei Melges de ; Oliveira, R. B. L.; Caron, L. E.
Fonte: Annual report. Nome do evento: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena. Unidades: IFSC, EP, IEE
Assunto: ENERGIA ELÉTRICA
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ABNT
OLIVEIRA, J. J. S. et al. The aerial bundled cables (ABC) and the characteristics of the semiconductive shield. 1996, Anais.. Piscataway: IEEE, 1996. . Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Oliveira, J. J. S., Pinheiro, W., Faria, R. M., Ruvolo Filho, A. C., Cardoso, J. R., Nachvalger, E. E., et al. (1996). The aerial bundled cables (ABC) and the characteristics of the semiconductive shield. In Annual report. Piscataway: IEEE.
NLM
Oliveira JJS, Pinheiro W, Faria RM, Ruvolo Filho AC, Cardoso JR, Nachvalger EE, Dirani EAT, Fonseca FJ, Castro AF, Andrade AM de, Oliveira RBL, Caron LE. The aerial bundled cables (ABC) and the characteristics of the semiconductive shield. Annual report. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Vancouver
Oliveira JJS, Pinheiro W, Faria RM, Ruvolo Filho AC, Cardoso JR, Nachvalger EE, Dirani EAT, Fonseca FJ, Castro AF, Andrade AM de, Oliveira RBL, Caron LE. The aerial bundled cables (ABC) and the characteristics of the semiconductive shield. Annual report. 1996 ;[citado 2024 nov. 05 ]
Trabalho de evento
Novo processo de calibracao dos sensores de correntes e tensoes impulsivas , usando a tecnologia dos eletretos (1992)
Altafim, Ruy Alberto Corrêa; Giacometti, José Alberto; Janiszewski, Jorge Mieczyslaw; Kameyama, Francisco Hirakazu
Fonte: Anais. Nome do evento: Seminario Internacional de Protecao contra Descargas Atmosfericas. Unidades: EP, IEE, IFSC, EESC
Assuntos: ENGENHARIA ELÉTRICA, ELETRÔNICA DE POTÊNCIA, ELETRÔNICA DE POTÊNCIA
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ABNT
ALTAFIM, Ruy Alberto Corrêa et al. Novo processo de calibracao dos sensores de correntes e tensoes impulsivas , usando a tecnologia dos eletretos. 1992, Anais.. Guaratinguetá: Unesp, 1992. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d25345a5-809d-477e-bf22-4de273a6b620/prod_0000231_sysno_829944.pdf. Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Altafim, R. A. C., Giacometti, J. A., Janiszewski, J. M., & Kameyama, F. H. (1992). Novo processo de calibracao dos sensores de correntes e tensoes impulsivas , usando a tecnologia dos eletretos. In Anais. Guaratinguetá: Unesp. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/d25345a5-809d-477e-bf22-4de273a6b620/prod_0000231_sysno_829944.pdf
NLM
Altafim RAC, Giacometti JA, Janiszewski JM, Kameyama FH. Novo processo de calibracao dos sensores de correntes e tensoes impulsivas , usando a tecnologia dos eletretos [Internet]. Anais. 1992 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d25345a5-809d-477e-bf22-4de273a6b620/prod_0000231_sysno_829944.pdf
Vancouver
Altafim RAC, Giacometti JA, Janiszewski JM, Kameyama FH. Novo processo de calibracao dos sensores de correntes e tensoes impulsivas , usando a tecnologia dos eletretos [Internet]. Anais. 1992 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d25345a5-809d-477e-bf22-4de273a6b620/prod_0000231_sysno_829944.pdf

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