Silicon microtips sharpening method for field emission applications (2008)
Dantas, Michel Oliveira da Silva; Galeazzo, Elisabete 
; Peres, Henrique Estanislau Maldonado ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: IBERSENSOR 2008: Anais. Conference titles: Ibero-American Congress on Sensors. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
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ABNT
DANTAS, Michel Oliveira da Silva et al. Silicon microtips sharpening method for field emission applications. 2008, Anais.. São Paulo: IPT, 2008. . Acesso em: 12 nov. 2024.APA
Dantas, M. O. da S., Galeazzo, E., Peres, H. E. M., & Ramírez Fernandez, F. J. (2008). Silicon microtips sharpening method for field emission applications. In IBERSENSOR 2008: Anais. São Paulo: IPT.NLM
Dantas MO da S, Galeazzo E, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Silicon microtips sharpening method for field emission applications. IBERSENSOR 2008: Anais. 2008 ;[citado 2024 nov. 12 ]Vancouver
Dantas MO da S, Galeazzo E, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Silicon microtips sharpening method for field emission applications. IBERSENSOR 2008: Anais. 2008 ;[citado 2024 nov. 12 ]
