Filters : "Physica Status Solid C" Limpar

Filters



Refine with date range


  • In: Physica Status Solid C. Unidade: EP

    Subjects: Filmes Finos

    DOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CARVALHO, Daniel O.; ALBERTIN, Katia Franklin; ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as antiresonant layer. Physica Status Solid C, Berlin, Wiley-VCH, v. 7, n. 3-4, p. 716-719, 2010. DOI: 10.1002/pssc.200982795.
    • APA

      Carvalho, D. O., Albertin, K. F., & Alayo Chávez, M. I. (2010). Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as antiresonant layer. Physica Status Solid C, 7( 3-4), 716-719. doi:10.1002/pssc.200982795
    • NLM

      Carvalho DO, Albertin KF, Alayo Chávez MI. Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as antiresonant layer. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 716-719.
    • Vancouver

      Carvalho DO, Albertin KF, Alayo Chávez MI. Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as antiresonant layer. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 716-719.
  • In: Physica Status Solid C. Unidade: EP

    Subjects: Filmes Finos

    DOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CARVALHO, Daniel O.; ALBERTIN, Katia Franklin; ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides. Physica Status Solid C, Berlin, Wiley-VCH, v. 7, n. 3-4, p. 960-963, 2010. DOI: 10.1002/pssc.200982878.
    • APA

      Carvalho, D. O., Albertin, K. F., & Alayo Chávez, M. I. (2010). TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides. Physica Status Solid C, 7( 3-4), 960-963. doi:10.1002/pssc.200982878
    • NLM

      Carvalho DO, Albertin KF, Alayo Chávez MI. TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 960-963.
    • Vancouver

      Carvalho DO, Albertin KF, Alayo Chávez MI. TiOxNy anti-resonant layer ARROW waveguides. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 960-963.
  • In: Physica Status Solid C. Unidade: EP

    Subjects: Filmes Finos, Semicondutores

    DOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      ALBERTIN, Katia Franklin; PEREYRA, Inés. Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer. Physica Status Solid C, Berlin, Wiley-VCH, v. 7, n. 3-4, p. 937-940, 2010. DOI: 10.1002/pssc.200982656.
    • APA

      Albertin, K. F., & Pereyra, I. (2010). Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer. Physica Status Solid C, 7( 3-4), 937-940. doi:10.1002/pssc.200982656
    • NLM

      Albertin KF, Pereyra I. Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 937-940.
    • Vancouver

      Albertin KF, Pereyra I. Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 937-940.
  • In: Physica Status Solid C. Unidade: EP

    Subjects: Filmes Finos, Semicondutores, Metais

    DOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      OLIVEIRA, Alessandro R.; PEREYRA, Inés; CARREÑO, Marcelo Nelson Paes. A study of metal contact properties on thermal annealed PECVD SiC thin films for MEMS applications. Physica Status Solid C, Berlin, Wiley-VCH, v. 7, n. 3-4, p. 793-796, 2010. DOI: 10.1002/pssc.200982839.
    • APA

      Oliveira, A. R., Pereyra, I., & Carreño, M. N. P. (2010). A study of metal contact properties on thermal annealed PECVD SiC thin films for MEMS applications. Physica Status Solid C, 7( 3-4), 793-796. doi:10.1002/pssc.200982839
    • NLM

      Oliveira AR, Pereyra I, Carreño MNP. A study of metal contact properties on thermal annealed PECVD SiC thin films for MEMS applications. Physica Status Solid C. 2010 ;7( 3-4): 793-796.
    • Vancouver

      Oliveira AR, Pereyra I, Carreño MNP. A study of metal contact properties on thermal annealed PECVD SiC thin films for MEMS applications. Physica Status Solid C. 2010 ;7( 3-4): 793-796.
  • In: Physica Status Solid C. Unidade: EP

    Subjects: Filmes Finos

    DOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      GOLLUB, Alexandre Henrique; CARVALHO, Daniel O.; PAIVA, Thiago C; ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures. Physica Status Solid C, Berlin, Wiley-VCH, v. 7, n. 3-4, p. 964-967, 2010. DOI: 10.1002/pssc.200982889.
    • APA

      Gollub, A. H., Carvalho, D. O., Paiva, T. C., & Alayo Chávez, M. I. (2010). Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures. Physica Status Solid C, 7( 3-4), 964-967. doi:10.1002/pssc.200982889
    • NLM

      Gollub AH, Carvalho DO, Paiva TC, Alayo Chávez MI. Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 964-967.
    • Vancouver

      Gollub AH, Carvalho DO, Paiva TC, Alayo Chávez MI. Hollow core ARROW waveguides fabricated with SiOxNy films deposited at low temperatures. Physica Status Solid C. 2010 ; 7( 3-4): 964-967.


Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2020