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  • Source: Anais eletrônicos. Conference titles: Simpósio do Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica - SIPGEM. Unidades: IFSC, EESC

    Subjects: PELE, TERAPIA FOTODINÂMICA, INFRAVERMELHO

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    • ABNT

      GARCIA, Marlon Rodrigues et al. Detecção da fluorescência da protoporfirina-IX no infravermelho próximo para o monitoramento da terapia fotodinâmica. 2018, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Escola de Engenharia de São Carlos - EESC, 2018. Disponível em: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SiPGEM/iiisipgem/paper/view/1354/817. Acesso em: 28 out. 2024.
    • APA

      Garcia, M. R., Pratavieira, S., Moriyama, L. T., Magalhães, D. V., & Becker, M. (2018). Detecção da fluorescência da protoporfirina-IX no infravermelho próximo para o monitoramento da terapia fotodinâmica. In Anais eletrônicos. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Escola de Engenharia de São Carlos - EESC. Recuperado de http://soac.eesc.usp.br/index.php/SiPGEM/iiisipgem/paper/view/1354/817
    • NLM

      Garcia MR, Pratavieira S, Moriyama LT, Magalhães DV, Becker M. Detecção da fluorescência da protoporfirina-IX no infravermelho próximo para o monitoramento da terapia fotodinâmica [Internet]. Anais eletrônicos. 2018 ;[citado 2024 out. 28 ] Available from: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SiPGEM/iiisipgem/paper/view/1354/817
    • Vancouver

      Garcia MR, Pratavieira S, Moriyama LT, Magalhães DV, Becker M. Detecção da fluorescência da protoporfirina-IX no infravermelho próximo para o monitoramento da terapia fotodinâmica [Internet]. Anais eletrônicos. 2018 ;[citado 2024 out. 28 ] Available from: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SiPGEM/iiisipgem/paper/view/1354/817
  • Source: Anais eletrônicos. Conference titles: Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM. Unidades: IFSC, EESC

    Subjects: TOMOGRAFIA COMPUTADORIZADA POR RAIOS X, LAMINADOS

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    • ABNT

      GOYO-BRITO, F. et al. Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning. 2017, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Escola de Engenharia de São Carlos - EESC, 2017. Disponível em: http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514. Acesso em: 28 out. 2024.
    • APA

      Goyo-Brito, F., Ferreira, A., Andreeta, M., Bonagamba, T. J., & Tarpani, J. R. (2017). Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning. In Anais eletrônicos. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Escola de Engenharia de São Carlos - EESC. Recuperado de http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514
    • NLM

      Goyo-Brito F, Ferreira A, Andreeta M, Bonagamba TJ, Tarpani JR. Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning [Internet]. Anais eletrônicos. 2017 ;[citado 2024 out. 28 ] Available from: http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514
    • Vancouver

      Goyo-Brito F, Ferreira A, Andreeta M, Bonagamba TJ, Tarpani JR. Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning [Internet]. Anais eletrônicos. 2017 ;[citado 2024 out. 28 ] Available from: http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514

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