Rodrigues, Sergio Gasques; Petitprez, Emmanuel; Gonzales-Borrero, Pedro P; Basmaji, Pierre; Marega Junior, Euclydes 
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, SEMICONDUTORES
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ABNT
RODRIGUES, Sergio Gasques et al. Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). 1998, Anais.. São Carlos: Universidade Federal de São Carlos, 1998. . Acesso em: 14 nov. 2024.APA
Rodrigues, S. G., Petitprez, E., Gonzales-Borrero, P. P., Basmaji, P., & Marega Junior, E. (1998). Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). In . São Carlos: Universidade Federal de São Carlos.NLM
Rodrigues SG, Petitprez E, Gonzales-Borrero PP, Basmaji P, Marega Junior E. Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). 1998 ;[citado 2024 nov. 14 ]Vancouver
Rodrigues SG, Petitprez E, Gonzales-Borrero PP, Basmaji P, Marega Junior E. Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). 1998 ;[citado 2024 nov. 14 ]
