Estudo dos efeitos característicos da tecnologia SOI em ampla faixa de temperatura (2008)
Source: 16 SIICUSP: anais.. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
ABNT
MARTINO, Márcio Dalla Valle et al. Estudo dos efeitos característicos da tecnologia SOI em ampla faixa de temperatura. 2008, Anais.. São Paulo: Universidade de São Paulo, 2008. . Acesso em: 02 nov. 2025.APA
Martino, M. D. V., Agopian, P. G. D., Van Noije, W. A. M., & Martino, J. A. (2008). Estudo dos efeitos característicos da tecnologia SOI em ampla faixa de temperatura. In 16 SIICUSP: anais.. São Paulo: Universidade de São Paulo.NLM
Martino MDV, Agopian PGD, Van Noije WAM, Martino JA. Estudo dos efeitos característicos da tecnologia SOI em ampla faixa de temperatura. 16 SIICUSP: anais. 2008 ;[citado 2025 nov. 02 ]Vancouver
Martino MDV, Agopian PGD, Van Noije WAM, Martino JA. Estudo dos efeitos característicos da tecnologia SOI em ampla faixa de temperatura. 16 SIICUSP: anais. 2008 ;[citado 2025 nov. 02 ]
