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  • Dissertação (Mestrado)

    Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício (2011)

    Maruta, Ricardo Hitoshi; Salcedo, Walter Jaimes (Orientador)

    Unidade: EP

    Subjects: PROCESSAMENTO DIGITAL DE IMAGENS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, GRANULOMETRIA, SILÍCIO

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MARUTA, Ricardo Hitoshi. Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício. 2011. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2011. Disponível em: https://teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/. Acesso em: 05 maio 2026.

    • APA

      Maruta, R. H. (2011). Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/

    • NLM

      Maruta RH. Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício [Internet]. 2011 ;[citado 2026 maio 05 ] Available from: https://teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/

    • Vancouver

      Maruta RH. Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício [Internet]. 2011 ;[citado 2026 maio 05 ] Available from: https://teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/

  • Artigo de periodico

    A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials (2010)

    Maruta, Ricardo Hitoshi; Hae, Yong Kim ; Huanca, Danilo Roque ; Salcedo, Walter Jaimes

    Source: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP

    Subjects: GRANULOMETRIA, ALGORITMOS

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MARUTA, Ricardo Hitoshi et al. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 225-229, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474170. Acesso em: 05 maio 2026.

    • APA

      Maruta, R. H., Hae, Y. K., Huanca, D. R., & Salcedo, W. J. (2010). A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 225-229. doi:10.1149/1.3474170

    • NLM

      Maruta RH, Hae YK, Huanca DR, Salcedo WJ. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 225-229.[citado 2026 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474170

    • Vancouver

      Maruta RH, Hae YK, Huanca DR, Salcedo WJ. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 225-229.[citado 2026 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474170
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