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  • Source: Journal of Sol-Gel Science and Technology. Unidade: IQSC

    Assunto: QUÍMICA INORGÂNICA

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    • ABNT

      BARROS FILHO, Djalma de Albuquerque; ABREU FILHO, Pompeu P; ALVES, Oswaldo Luiz; FRANCO, Douglas Wagner. Sensitization of niobium pentoxide thin films by cis-Dithiocyanate (2,2-bipyridyl-4,4'dicarboxylic acid) ruthenium(II) complex. Journal of Sol-Gel Science and Technology, Dordrecht, v. 18, p. 259-267, 2000.
    • APA

      Barros Filho, D. de A., Abreu Filho, P. P., Alves, O. L., & Franco, D. W. (2000). Sensitization of niobium pentoxide thin films by cis-Dithiocyanate (2,2-bipyridyl-4,4'dicarboxylic acid) ruthenium(II) complex. Journal of Sol-Gel Science and Technology, 18, 259-267.
    • NLM

      Barros Filho D de A, Abreu Filho PP, Alves OL, Franco DW. Sensitization of niobium pentoxide thin films by cis-Dithiocyanate (2,2-bipyridyl-4,4'dicarboxylic acid) ruthenium(II) complex. Journal of Sol-Gel Science and Technology. 2000 ; 18 259-267.
    • Vancouver

      Barros Filho D de A, Abreu Filho PP, Alves OL, Franco DW. Sensitization of niobium pentoxide thin films by cis-Dithiocyanate (2,2-bipyridyl-4,4'dicarboxylic acid) ruthenium(II) complex. Journal of Sol-Gel Science and Technology. 2000 ; 18 259-267.
  • Source: Journal of Materials Science. Unidade: IQSC

    Assunto: FÍSICO-QUÍMICA

    DOIHow to cite
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    • ABNT

      BARROS FILHO, Djalma de Albuquerque; FRANCO, Douglas Wagner; ABREU FILHO, P P; ALVES, O L. Niobia films: surface morphology, surface analysis, photoelectrochemical properties and crystallization process. Journal of Materials Science, London, v. 33, p. 2607-2616, 1998. DOI: 10.1023/a:1004361420740.
    • APA

      Barros Filho, D. de A., Franco, D. W., Abreu Filho, P. P., & Alves, O. L. (1998). Niobia films: surface morphology, surface analysis, photoelectrochemical properties and crystallization process. Journal of Materials Science, 33, 2607-2616. doi:10.1023/a:1004361420740
    • NLM

      Barros Filho D de A, Franco DW, Abreu Filho PP, Alves OL. Niobia films: surface morphology, surface analysis, photoelectrochemical properties and crystallization process. Journal of Materials Science. 1998 ; 33 2607-2616.
    • Vancouver

      Barros Filho D de A, Franco DW, Abreu Filho PP, Alves OL. Niobia films: surface morphology, surface analysis, photoelectrochemical properties and crystallization process. Journal of Materials Science. 1998 ; 33 2607-2616.
  • Unidade: IQSC

    Assunto: FÍSICO-QUÍMICA

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    • ABNT

      BARROS FILHO, Djalma de Albuquerque; FRANCO, Douglas Wagner. Comportamento fotoeletroquímico de filmes sol-gel de 'Nb IND.2''O IND.5' sensibilizados com complexos de rutênio. 1997.Universidade de São Paulo, São Carlos, 1997.
    • APA

      Barros Filho, D. de A., & Franco, D. W. (1997). Comportamento fotoeletroquímico de filmes sol-gel de 'Nb IND.2''O IND.5' sensibilizados com complexos de rutênio. Universidade de São Paulo, São Carlos.
    • NLM

      Barros Filho D de A, Franco DW. Comportamento fotoeletroquímico de filmes sol-gel de 'Nb IND.2''O IND.5' sensibilizados com complexos de rutênio. 1997 ;
    • Vancouver

      Barros Filho D de A, Franco DW. Comportamento fotoeletroquímico de filmes sol-gel de 'Nb IND.2''O IND.5' sensibilizados com complexos de rutênio. 1997 ;
  • Unidade: IFQSC

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, SUPERFÍCIE FÍSICA, MATÉRIA CONDENSADA

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      BARROS FILHO, Djalma de Albuquerque; AEGERTER, Michel Andre. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria. 1992.Universidade de São Paulo, São Carlos, 1992. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/ >.
    • APA

      Barros Filho, D. de A., & Aegerter, M. A. (1992). Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria. Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/
    • NLM

      Barros Filho D de A, Aegerter MA. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria [Internet]. 1992 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/
    • Vancouver

      Barros Filho D de A, Aegerter MA. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria [Internet]. 1992 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/

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