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  • Artigo de periodico

    Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices (2000)

    Zeballos-Velasquez, E L; Moncada L, H; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu

    Source: Superlattices and Microstructures. Unidade: IF

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, QUÍMICA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ZEBALLOS-VELASQUEZ, E L e MONCADA L, H e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices. Superlattices and Microstructures, v. 28, n. 3, p. 207-215, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902. Acesso em: 27 set. 2024.

    • APA

      Zeballos-Velasquez, E. L., Moncada L, H., & Fantini, M. C. de A. (2000). Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices. Superlattices and Microstructures, 28( 3), 207-215. doi:10.1006/spmi.2000.0902

    • NLM

      Zeballos-Velasquez EL, Moncada L H, Fantini MC de A. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices [Internet]. Superlattices and Microstructures. 2000 ; 28( 3): 207-215.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902

    • Vancouver

      Zeballos-Velasquez EL, Moncada L H, Fantini MC de A. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices [Internet]. Superlattices and Microstructures. 2000 ; 28( 3): 207-215.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902

  • Artigo de periodico

    Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability (1997)

    Zeballos-Velasquez, E L; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu

    Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidade: IF

    Assunto: MATÉRIA CONDENSADA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ZEBALLOS-VELASQUEZ, E L e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 209, p. 175-187, 1997Tradução . . Acesso em: 27 set. 2024.

    • APA

      Zeballos-Velasquez, E. L., & Fantini, M. C. de A. (1997). Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids, 209, 175-187.

    • NLM

      Zeballos-Velasquez EL, Fantini MC de A. Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids. 1997 ; 209 175-187.[citado 2024 set. 27 ]

    • Vancouver

      Zeballos-Velasquez EL, Fantini MC de A. Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids. 1997 ; 209 175-187.[citado 2024 set. 27 ]
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