Aplicação da densitometria de raios X na análise da qualidade da madeira de lápis (2000)
Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo. Unidade: ESALQSubjects: MADEIRA (PROPRIEDADES FÍSICAS;PROPRIEDADES MECÂNICAS), PINHEIRO
ABNT
PORTERO, K R C et al. Aplicação da densitometria de raios X na análise da qualidade da madeira de lápis. 2000, Anais.. São Paulo: USP, 2000. . Acesso em: 04 nov. 2025.APA
Portero, K. R. C., Tomazello Filho, M., Tomazello, M. G. C., & Lisi, C. S. (2000). Aplicação da densitometria de raios X na análise da qualidade da madeira de lápis. In . São Paulo: USP.NLM
Portero KRC, Tomazello Filho M, Tomazello MGC, Lisi CS. Aplicação da densitometria de raios X na análise da qualidade da madeira de lápis. 2000 ;[citado 2025 nov. 04 ]Vancouver
Portero KRC, Tomazello Filho M, Tomazello MGC, Lisi CS. Aplicação da densitometria de raios X na análise da qualidade da madeira de lápis. 2000 ;[citado 2025 nov. 04 ]
                    
                    