Study of poly(amide-imide) thin films through impedance spectroscopy using MIS configuration (2011)
Lopes, Èlder Mantovani; Ywata, Ricardo Sussumu; Shimizu, Flávio Makoto; Alves, Neri; Taylor, David Martin; Carvalho, Antonio Jose Felix 
; Giacometti, José Alberto
Source: Program Book. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: EESC
Subjects: DIELÉTRICOS, FILMES FINOS
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ABNT
LOPES, Èlder Mantovani et al. Study of poly(amide-imide) thin films through impedance spectroscopy using MIS configuration. 2011, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2011. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/10encontro/proceedings/pdf/4GVS.pdf. Acesso em: 21 out. 2025.APA
Lopes, È. M., Ywata, R. S., Shimizu, F. M., Alves, N., Taylor, D. M., Carvalho, A. J. F., & Giacometti, J. A. (2011). Study of poly(amide-imide) thin films through impedance spectroscopy using MIS configuration. In Program Book. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/10encontro/proceedings/pdf/4GVS.pdfNLM
Lopes ÈM, Ywata RS, Shimizu FM, Alves N, Taylor DM, Carvalho AJF, Giacometti JA. Study of poly(amide-imide) thin films through impedance spectroscopy using MIS configuration [Internet]. Program Book. 2011 ;[citado 2025 out. 21 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/10encontro/proceedings/pdf/4GVS.pdfVancouver
Lopes ÈM, Ywata RS, Shimizu FM, Alves N, Taylor DM, Carvalho AJF, Giacometti JA. Study of poly(amide-imide) thin films through impedance spectroscopy using MIS configuration [Internet]. Program Book. 2011 ;[citado 2025 out. 21 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/10encontro/proceedings/pdf/4GVS.pdf
