A systematic mapping study on test generation from Input/Output Transition Systems (2015)
Paiva, Sofia Larissa da Costa; Simão, Adenilso da Silva 
Source: Proceedings. Conference titles: Euromicro Conference on Software Engineering and Advanced Applications – SEAA 2015. Unidade: ICMC
Subjects: ENGENHARIA DE SOFTWARE, SISTEMAS DE INFORMAÇÃO
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ABNT
PAIVA, Sofia Larissa da Costa e SIMÃO, Adenilso da Silva. A systematic mapping study on test generation from Input/Output Transition Systems. 2015, Anais.. Piscataway, NJ: IEEE, 2015. Disponível em: https://doi.org/10.1109/SEAA.2015.66. Acesso em: 01 nov. 2024.APA
Paiva, S. L. da C., & Simão, A. da S. (2015). A systematic mapping study on test generation from Input/Output Transition Systems. In Proceedings. Piscataway, NJ: IEEE. doi:10.1109/SEAA.2015.66NLM
Paiva SL da C, Simão A da S. A systematic mapping study on test generation from Input/Output Transition Systems [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2024 nov. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1109/SEAA.2015.66Vancouver
Paiva SL da C, Simão A da S. A systematic mapping study on test generation from Input/Output Transition Systems [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2024 nov. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1109/SEAA.2015.66
