Subjects: SOFTWARES, ENGENHARIA DE SOFTWARE, LINGUAGEM DE PROGRAMAÇÃO
ABNT
PAIVA, Sofia Larissa da Costa. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída. 2016. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2016. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/. Acesso em: 30 set. 2024.APA
Paiva, S. L. da C. (2016). Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/NLM
Paiva SL da C. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída [Internet]. 2016 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/Vancouver
Paiva SL da C. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída [Internet]. 2016 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/