Goldfeder, Mauricio Barbugiani; Carvalho, Alexsander Tressino de; Faria, Dalva Lúcia Araújo de 
; Silva, Maria Lucia Pereira da
Source: Resumos. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo. Unidades: IQ, EP
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, ESPECTROSCOPIA RAMAN, SILÍCIO
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ABNT
GOLDFEDER, Mauricio Barbugiani et al. Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. 2002, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo, 2002. . Acesso em: 06 nov. 2024.APA
Goldfeder, M. B., Carvalho, A. T. de, Faria, D. L. A. de, & Silva, M. L. P. da. (2002). Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. In Resumos. São Carlos: Universidade de São Paulo.NLM
Goldfeder MB, Carvalho AT de, Faria DLA de, Silva MLP da. Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. Resumos. 2002 ;[citado 2024 nov. 06 ]Vancouver
Goldfeder MB, Carvalho AT de, Faria DLA de, Silva MLP da. Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. Resumos. 2002 ;[citado 2024 nov. 06 ]
