UBIC GaN:Si layers investigated by Raman scattering spectroscopy (2001)
Fernandez, José Rafael León; Silva, M. T. O.; Pusep, Yuri A 
; Chitta, Valmir Antonio ; Tabata, A; Noriega, O C; Leite, J. R.; Abramof, E; As, D. J.; Schikora, D; Lischka, K
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FERNANDEZ, José Rafael León et al. UBIC GaN:Si layers investigated by Raman scattering spectroscopy. 2001, Anais.. São Paulo: SBF, 2001. . Acesso em: 02 nov. 2025.APA
Fernandez, J. R. L., Silva, M. T. O., Pusep, Y. A., Chitta, V. A., Tabata, A., Noriega, O. C., et al. (2001). UBIC GaN:Si layers investigated by Raman scattering spectroscopy. In Resumos. São Paulo: SBF.NLM
Fernandez JRL, Silva MTO, Pusep YA, Chitta VA, Tabata A, Noriega OC, Leite JR, Abramof E, As DJ, Schikora D, Lischka K. UBIC GaN:Si layers investigated by Raman scattering spectroscopy. Resumos. 2001 ;[citado 2025 nov. 02 ]Vancouver
Fernandez JRL, Silva MTO, Pusep YA, Chitta VA, Tabata A, Noriega OC, Leite JR, Abramof E, As DJ, Schikora D, Lischka K. UBIC GaN:Si layers investigated by Raman scattering spectroscopy. Resumos. 2001 ;[citado 2025 nov. 02 ]
