Investigaciones de nanomateriales meidante XRD, XAFS y SAXS con luz de síncrotron (2009)
Craievich, Aldo Felix 
; Lamas, Diego G; Requejo, Félix G
Source: Abstracts. Conference titles: Congreso Internacional de Metalurgia Y Materiales-SAM-CONAMET. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOPARTÍCULAS
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ABNT
CRAIEVICH, Aldo Felix e LAMAS, Diego G e REQUEJO, Félix G. Investigaciones de nanomateriales meidante XRD, XAFS y SAXS con luz de síncrotron. 2009, Anais.. Buenos Aires: CNEA, 2009. Disponível em: http://www.cnea.gov.ar/samconamet2009/conferencias/Abstract%20Craievich.pdf. Acesso em: 02 nov. 2025.APA
Craievich, A. F., Lamas, D. G., & Requejo, F. G. (2009). Investigaciones de nanomateriales meidante XRD, XAFS y SAXS con luz de síncrotron. In Abstracts. Buenos Aires: CNEA. Recuperado de http://www.cnea.gov.ar/samconamet2009/conferencias/Abstract%20Craievich.pdfNLM
Craievich AF, Lamas DG, Requejo FG. Investigaciones de nanomateriales meidante XRD, XAFS y SAXS con luz de síncrotron [Internet]. Abstracts. 2009 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: http://www.cnea.gov.ar/samconamet2009/conferencias/Abstract%20Craievich.pdfVancouver
Craievich AF, Lamas DG, Requejo FG. Investigaciones de nanomateriales meidante XRD, XAFS y SAXS con luz de síncrotron [Internet]. Abstracts. 2009 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: http://www.cnea.gov.ar/samconamet2009/conferencias/Abstract%20Craievich.pdf
